STUDY OF FAILURE MODES OF MICROELECTRONIC PACKAGING MODULES BY HOLOGRAPHY QUASI PROJECTION MOIRE METHOD

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摘要 Inthispaper,anovelinterferometricmethodwithawiderangeofsensitivities,calledholographyquasiprojectionmoire,isproposed.Itcombinesthefeaturesofthevariateddoubleprojectionmoiremethodandtheholographicinterfer-ometrymethod.Thistechniqueisusedtostudythefailuremodesofmicroelectronicpackagingmodules.
机构地区 不详
出处 《力学学报:英文版》 1997年2期
出版日期 1997年02月12日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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