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基于AOstar算法的最优诊断生成组件的设计与实现

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摘要最优诊断树是电子可测性设计与分析的重要研究内容，也是电子系统故障隔离的基础。针对国内对最优故障诊断树研究和应用的需求，介绍了采用启发式AO＊（AOstar）算法求解最优故障诊断树的方法，并将该算法封装实现为COM组件。与国外可测性分析软件TEAMS生成的诊断树结果对比分析，表明结果准确，组件易扩展，可以方便的嵌入到可测性设计与分析以及故障诊断软件之中。

DOI 2d3gv1zg49/1079067

作者杨兴霁;龙兵;刘震

机构地区不详

出处《电子元器件应用》 2011年11期

关键词最优诊断树故障诊断 AO＊算法启发函数

分类 [电子电信][电路与系统]

出版日期 2011年11月21日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

电子元器件应用

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