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我国专家赴美参加IEC/TC35会议
我国专家赴美参加IEC/TC35会议
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摘要
2011年10月17日至19日,IEC/TC35在美国纳帕召开工作会议。来自中国的四位IEC/TC35技术专家组成员林佩云(轻工业化学电源研究所)、李晓伟(国家化学电源产品质量监督检验中心)、高一兵(中银(宁波)电池有限公司)和魏洪兵(江苏省出入境检验检疫局吴江实验室)出席了会议。
DOI
wjvzw8qwd7/1085526
作者
机构地区
不详
出处
《电池工业》
2011年5期
关键词
TC35
技术专家
IEC
质量监督检验中心
出入境检验检疫局
化学电源
分类
[电气工程][电力电子与电力传动]
出版日期
2011年05月15日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
电池工业
2011年5期
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TC35
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IEC
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化学电源
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