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基板的非接触电气检测技术

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摘要本文首先简要介绍几种最近开发的非接触电气检测技术的基本原理，而后对DFT（DesignforTestability/可测性设计）的具体方式BIST(Built-inselftest/板内自测试）、边界扫描法及SCTTT法（StaticComponentInterconnectionTestTechnology)等非接触电气检测的具体方法进行了详细论述。

DOI lde16xyqj3/1319765

作者陈皖苏

机构地区不详

出处《印制电路信息》 2000年12期

关键词基板印刷电路板非接触电气检测

分类 [电子电信][微电子学与固体电子学]

出版日期 2000年12月22日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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