同步辐射X射线干涉的实验研究

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摘要 介绍在北京同步辐射装置上进行的国内首次LLL型X射线干涉实验研究,在X光底片上观察到了Moire干涉条纹,为进一步利用X射线干涉技术实现纳米测量打下了初步基础。
机构地区 不详
出版日期 1998年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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