首页 > 《防护工程》 > 2018年5期 > 半导体元器件可靠性及其制造分析

半导体元器件可靠性及其制造分析

在线阅读下载PDF 导出详情

摘要摘要半导体元器件较高可靠性以及制造的实现，是产品质量保证的重要指标，有效满足了人们生产生活的需要，促进了工业化建设的发展。并且半导体元器件可靠性要从构思设计到使用报废全过程贯穿始终，为了充分发挥半导体元器件的作用，本文阐述了半导体元器件可靠性的主要内容与半导体元器件常见的失效分布及失效，对半导体元器件可靠性试验及可靠性筛选与制造进行了探讨分析。

DOI ldeokm3n43/3356841

作者宋超宋海涛

机构地区烟台北方星空自控科技有限公司山东烟台264000

出处《防护工程》 2018年5期

关键词半导体元器件可靠性内容失效分布试验筛选制造

分类 [文化科学][]

出版日期 2018年05月15日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）