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光无源器件偏振依赖损耗的测试方法

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摘要介绍了光无源器件偏振依赖损耗的几种测试方法,并对它们的优缺点进行了比较.

DOI 0dpovg2xj2/384021

作者王恒飞;应承平;全治科

机构地区不详

出处《光子技术》 2005年3期

关键词偏振依赖损耗测试方法光器件光无源器件损耗偏振

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2005年03月13日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

光子技术

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