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RoHS检测用X荧光光谱仪校准方法的初探

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摘要摘要: 在本文中，我们提出了RoHS检测荧光X射线光谱仪的测量性能要求和校正方法，验证了该方法的可能性，并参考了未来的规则公式。随着社会的发展和人们生活水平的提高，电子产品的要求和使用也越来越广泛。欧盟（EU）发出的RoHS（限制电子和电气设备中特定有害物质使用的指令）规定了电子设备的最小使用，因此X射线荧光光谱仪在RoHS检测中被更多地使用。荧光X射线分析装置的校正方法更受关注。

DOI 3j77w2qwj1/5390429

作者李青

机构地区身份证号码：12010319830917****

出处《科学与技术》 2021年10期

关键词 RoHS X荧光光谱仪校准

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2021年08月02日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）