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数字电子电路测试技术核心要点构架

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摘要摘要：伴随着科学技术的持续发展进步，芯片技术组件的体积呈现出持续缩小的变化趋势，其内部承载的数字电子电路技术结构的设计工作环节，则展现出渐趋复杂的变化趋势，客观上也引致围绕数字电子电路技术结构推进开展的测试技术环节，展示出越来越高的复杂程度。择取运用具备充分安全性和可靠性的测试技术方法，有助于支持促进产品设计工作实施水平显著提升，优化调整产品生产制造质量，并且改良优化企业的商业信誉和社会影响力。文章将会围绕数字电子电路测试技术核心要点构架，展开简要的阐释分析。

DOI 2d3nlom7j9/6401943

作者黄伟群

机构地区广东美创希科技有限公司广东佛山 528000

出处《建筑实践》 2022年10期

关键词数字电子电路测试技术核心要点探讨分析

分类 [文化科学][]

出版日期 2022年09月06日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）