摘要
摘要:器件测试是集成电路投入使用前不可或缺的环节，能够帮助修正设计错误、检测参数故障和堆积缺陷、验证器件在应力和环境作用下的可靠性，但是不规范的测试操作往往也会导致器件发生不必要的故障甚至失效。本文通过典型案例介绍，分析了器件检测过程中操作不当引起的过电应力失效，详细地分析了失效原因，并针对失效案例提出了预防措施，避免后续发生类似的失效事件。集成电路产业是现代电子信息产业的基础和核心。随着全球信息化、网络化和数字经济的迅速发展，集成电路产业在国民经济中的地位越来越重要，已成为支撑中国发展的战略物资，是国家实力竞争的战略制高点。它以无穷的变革创新和极强的渗透力，推动着信息产业的快速发展。集成电路行业中上游的对外依赖度长期居高。本文主要就集成电路器件的检测与失效进行了分析。
出版日期
2023年12月27日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
