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低压综合配电箱温升影响因素研究
低压综合配电箱温升影响因素研究
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摘要
未填写
DOI
pd5kkmq6rd/8345995
作者
摘
要:通过对低压综合配电箱(JP柜)的质量抽检
发现温升试验的不合格率相对较高
过高的温升可能会对设备的稳定和安全运行构成威胁。本文分析了JP柜中塑壳断路器温升超标的主要原因
并提出了一系列关于JP柜中塑壳断路器的选用建议以及结构优化措施
旨在降低温升并提升设备的整体性能。
机构地区
不详
出处
《当代电力文化》
2024年7期
关键词
低压综合配电箱(JP柜)
温升
实验
分类
[电气工程][电力系统及自动化]
出版日期
2024年06月05日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
当代电力文化
2024年7期
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