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低压综合配电箱温升影响因素研究

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DOI pd5kkmq6rd/8345995

作者摘要：通过对低压综合配电箱（JP柜）的质量抽检发现温升试验的不合格率相对较高过高的温升可能会对设备的稳定和安全运行构成威胁。本文分析了JP柜中塑壳断路器温升超标的主要原因并提出了一系列关于JP柜中塑壳断路器的选用建议以及结构优化措施旨在降低温升并提升设备的整体性能。

机构地区不详

出处《当代电力文化》 2024年7期

关键词低压综合配电箱（JP柜）温升实验

分类 [电气工程][电力系统及自动化]

出版日期 2024年06月05日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

当代电力文化

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