简介：摘要：本文介绍了一种基于ATE（自动测试设备）的高低温自动测试方法。该方法利用ATE设备的自动化和控制能力，结合高低温测试设备，实现对电子元器件在不同温度条件下的自动测试。通过分析测试结果，可以评估电子元器件在极端温度环境下的性能和可靠性。本文详细介绍了该方法的实施步骤和关键技术，以及在实际应用中的优势和挑战。研究表明，基于ATE的高低温自动测试方法可以提高测试效率、降低人力成本，并为电子产品的设计和生产提供重要的技术支持。
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