简介：利用拉曼光谱研究了He^2＋注入六方SiC晶体样品时的损伤缺陷随注量的变化关系，并采用直接碰撞/缺陷模拟模型与多级损伤累积模型，模拟了室温及723，873，1023K下晶体样品的无序度随注量的变化关系。测试结果表明：随着注量的增加，晶体样品无序度增大，样品的拉曼特征峰强度减小。

简介：本文介绍用LabVIEW仿真软件实现李萨如图形。

简介：在大学物理实验教学中,学生在调节示波器频率时,通常会遇到李萨如图形随着频率的调节,出现不稳定现象。在一定的范围内,当频率调节增加时,李萨如迁移演化不稳定程度不同。本文通过实验以及matlab软件模拟李萨如图像形成过程,举例着重讨论分析李萨如图形不稳定原因,并初步定量讨论影响不稳定迁移演化周期因素。

简介：在相同的反应体系中当ｐｈ值从约９．５调变至１１时分别合成出双中孔ＳｉＯ２和六方中孔ＳｉＯ２材料，并用ＸＲＤ、Ｎ２吸附、ＴＥＭ、ＴＧ／ＤＴＡ和ＦＴＩＲ等测试手段对合成产物进行了表征。实验结果表明，双中孔ＳｉＯ和六方中孔ＳｉＯ２是合成中必然出现的两种不同的中孔物相。与六方中孔ＳｉＯ２相比，双中孔ＳｉＯ２也具有典型中孔材料的特征ＸＲＤ谱图，虽然仅呈现一个易让人产生不完全晶化误解的相对较宽的单ＸＲＤ衍射峰（ｄ＝５．２ｎｍ），但它却给出一种独特的Ｎ２吸附等温线和窄的双峰中孔孔径分布曲线。由于孔壁的无定形及表面活性剂分子与ＳｉＯ２骨架间相似的相互作用，两类材料给出类似的ＦＴＩＲ谱图和ＴＧ／ＤＴＡ曲线。然而，在双中孔ＳｉＯ２的ＦＴＩＲ谱图中９６０ｃｍ处峰强度的微小变化可能意味着在锻烧脱除模板剂后双中孔ＳｉＯ２较六方中孔ＳｉＯ２具有更高的骨架聚合度。更多还原

简介：在大学物理教学中分析李萨如图像时,通常使用传统的方法,即切点数反比法、或十字交点数反比法确定李萨如图像水平与竖直方向分振动频率比。但切点数反比法无法确定有端点的李萨如图像的频率比,而十字交点数反比法分析时,学生容易出现较多疑问。而此提出的新的分析方法——单曲线数正比法,其分析过程与分振动物理含义结合紧密,容易理解,应用简单,对封闭以及有端点的李萨如图形分析都适用。