简介：采用粉末压片法建立了X射线荧光光谱法测定铝电解质中氧元素含量的方法，通过测定氧元素来计算三氧化二铝的含量；重点讨论了样品前处理、粉料颗粒度、保压时间、压片压力等对于超轻元素的粉末压片制样的影响因素，同时采用二点法对氧元素进行背景扣除，运用固定“系数法校正基体效应；方法的相对标准偏差RSD低于2．00％，方法的检出限为163mg／kg，相对分析误差控制在3％以下，误差控制在电解质中氧化铝质量控制允许的范围之内。方法用来分析铝电解质中氧化铝组分含量，结果准确，符合生产要求。方法简单、快速、灵敏，能够作为铝电解质中氧化铝的有效检测手段。

简介：详细论述了压片法及熔融片法测定钼精矿的分析条件。其中压片法通过大量采用同一矿区的生产样品经化学定值后作为校准样品建立校准曲线，因此粒度效应和矿物效应基本上可忽略。详细地讨论了元素之间谱线干扰、背景和脉冲高度选择。使用经验系数法校正基体效应，可准确测定钼精矿中的钼、硫、铁、铜、铅、锌等11种元素。在熔融片法中主要讨论了元素谱线的选择及其相互之间的干扰，经理论α系数校正后，可准确测定不同钼矿中的多种元素，其适用范围更广。

简介：传统的化学分析方法分析硅酸盐类矿物样品组份,操作过程繁琐、分析周期长、劳动强度较大,分析结果受分析人员及各种试剂因素影响较大。采用国产能量色散X-射线荧光分析仪,以Li2B4O7和LiBO2作混合熔剂,NH4NO3为氧化剂,熔融制作玻璃熔片,对硅酸盐中SiO2等10个主要成分含量进行同时分析,建立了能量色散X-射线荧光光谱法测定硅酸盐主成分含量的方法,准确度和精密度均达到了规范要求,得到了较为满意的分析结果。

简介：采用粉末样品直接压片法，使用自制校准样品在布鲁克S2RANGEREDX光谱仪上通过各种基体干扰校正手段，建立了基夫赛特直接炼铅炉渣中Pb，Zn，Cu，Fe，SiO2，CaO的测定工作曲线，并考察了样品粒度、制样条件对结果的影响以及考核了压片精度和方法准确度。方法简便快捷、精密度高、准确度满足主产工艺指标要求。