简介:在半导体制造工业中,参数测试作为有效的对在线制品的监控手段,一方面反映了工艺线的工艺水平状况,另一方面它也是制造公司与设计公司之间进行沟通的主要依据。而对于新工艺研发来说,参数测量及分析更是整个研发过程中极其重要的一部分,及时准确的参数测量结果是产品工程师快速作出工艺研发方向的判断依据。因此,芯片参数测量分析的主要作用在于:在工业生产中得到大量的测量数据,用于评价工艺设备、半导体材料和电路结构,监视和控制工艺和器件参数的均匀性、重复性、协调性,分析工艺中存在的缺陷,诊断电路性能失常规律,预测成品率,预报可靠性信息等等。文章主要介绍了运用参数测试对在线工艺异常进行可靠性评估的方法。
简介:对ASON的路由进行了深入研究,在分析ASON网络的特点的基础上,提出了一种全新的适用于ASON路由的波长路由算法,在用链表方法表示网络结构的基础上,将波长信息加入链表内,找到符合波长连续的最短路径,或在增加波长变换器时,计算最小代价的路径。并对该算法进行了仿真实现,证实了该算法是可行的、有效的路由波长算法。
简介:针对目前不同类型FPGA要求的位元电路不一致现象.提出了一种通用FPGA位电路,该位元电路不仅适用于任意结构的反熔丝/熔丝FPGA,还可以单独的存储1和O,对反熔丝/熔丝熔通后的电阻特性也没有具体要求。
简介:ESPRIT测向算法需要预先知道来波的数目.本文对ESPRIT算法进行了改进.改进后的算法把对空间来波数目的估计和空间来波方向的估计有效地结合起来,从整体上减少了运算量,而没有降低测向性能.最后进行了计算机仿真.仿真结果表明,该算法切实可行,具有工程应用价值.