简介:
简介:摘要:本文以理论分析加实验验证的方式讲述了 MOSFET塑封料评估的环境试验与老化试验的比对分析,发现对于塑封料评估的可靠性试验设计必须合理,如果芯片工艺稳定,历史表现良好,那么环境试验比老化试验更直接有效的验证了塑封料的性能,但是对于无钝化层工艺或者历史表现一般的芯片而言,老化试验也是验证塑封料必不可少的测试项目。
MOSFET驱动参数对电磁干扰影响的研究
MOSFET塑封料评估的环境试验与老化试验比对分析