简介:摘要电子元器件是组成电子产品必不可少的基本元素,任何电子元器件的故障都会使电子设备产生故障,进而无法正常运作。
简介:摘要COB隔离封装中,隔离距离对光通量及相关色温的影响。实验结果表明,低电流输入条件下,光通量随芯片表而到荧光粉层距离变化是非线性的,当芯片表面到荧光粉层距离为0.8-0.9mm时具有最佳,COB相关色温随着距离的增加呈先下降后上升。
简介:摘要IGSS是衡量VDMOS器件性能的一个重要参数,在生产过程中,有很多因素会影响IGSS。文中从VDMOS器件结构及工艺入手,通过电学性能测试分析及FA失效分析对一种特定区域的IGSS失效问题进行研究,发现是多晶刻蚀残留导致IGSS失效,并分析了多晶残留的原因,最终通过加入SF6,调整多晶刻蚀菜单解决了IGSS失效。