简介:介绍了评价烟幕光学性能的方法,主要是烟箱评价法及各类烟箱的基本情况,综合论述了烟幕抗红外能力的评价方法.
简介:提出了一种基于自准直反射法测量光学中心偏的检测方法,分析了其测量光学中心偏的基本原理,在此基础上设计了基于自准直反射法的光学镜组中心偏检测系统.系统采用CV-A1型CCD探测器组件,以轴向晃动≤1″、径向跳动≤1μm的高精度基准轴工作台配合PIV研华工控机进行数据采集和图像处理,系统测量精度为:角度≤2″,线度≤0.01mm.实际应用表明,该系统适用于1.06μm激光探测系统光学镜组的在线装校及系统中心偏检测,也可用于其它光学系统中心偏的测量.
简介:静电放电(ESD)潜在性失效问题是当前微电子工业面临的可靠性问题之一,并且越来越引起人们的重视.国内外学者在微电子器件ESD潜在性失效的检测及探讨失效机理方面的研究取得了较大的进展.研究表明:MOS电路等微电子器件,在ESD作用下确实存在潜在性失效问题.因此,开展ESD潜在性失效研究具有重要意义.
简介:分析了军用光学系统像散的特征及其几何规律,运用计算几何模线曲面的方法建立了像散的数学模型。应用体视图像技术实现了军用光学像散的体视三维可视化模拟。
简介:结合工程需要设计了消息基器件数据低寄存器定位监视电路,满足了总线和本地CPU对数据低寄存器读写时的时序关系,给出了部分实现电路和状态转移流程图.
简介:通过理论模拟计算详细分析了KBe2BO3F2(KBBF)晶体的光学倍频特性,得到了Nd∶YVO4激光6倍频输出的深紫外激光光源(177.3nm)的相关技术参数。结果对于KBBF晶体用于产生深紫外全固态激光(DPL)的实验研究提供了重要的理论依据。
烟幕光学性能评价方法综述
基于自准直反射法的光学中心偏检测系统研究
ESD对微电子器件造成潜在性失效的研究综述
军用光学像散的体视三维可视化模拟
VXI总线消息基器件数据低寄存器定位监视电路设计
深紫外非线性晶体KBe_2BO_3F_2的光学倍频特性