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  • 简介:采用高氢稀硅烷热丝化学气相沉积方法制备氢化微晶硅薄膜。其结构特征用Raman谱,红外透射谱,小角X射线散射等来表征。结果表明微晶硅大小及在薄膜中晶态比Xc随氢稀释度提高而增加。而从红外谱计算得到氢含量则随氢稀释度增加而减小。小角X射线散射结果表明薄膜致密度随氢稀释度增加而增加。结合红外谱和小角X射线散射结果讨论与比较了不同相结构下硅网络中H增加而增加。结合红外谱和小角X射线散射结果讨论与比较了不同相结构下硅网络中H键合状态。认为随着晶化发生和晶化程度提高H逐渐移向晶粒表面,在硅薄膜中H存在形式从以SiH为主向SiH2转变,即在微晶硅膜中主要以SiH2形式存在于晶粒界面。

  • 标签: 氢化 小射X射线散射 稀释 制备 微晶硅薄膜 微结构
  • 简介:根据8.5XAFS束线改进工程需要,我们设计了一种应用于同步辐射光束线狭缝,该狭缝不但可限制同步辐射光束截面尺寸,同时具有光束线位置探测功能。可以方便测量光束垂直分布及中心位置:迅速准确准直狭缝及对光束移动做实时监测。

  • 标签: 束线位置探测功能 8.5XAFS束线改进工程 同步辐射光束线 狭缝
  • 简介:应用扩展X射线精细结构(EXAFS)技术研究了化学改性MnO2中锰及铋结构形态。结果表明:掺杂元素铋进入MnO2晶格,增大MnO2不同壳层配位无定形。在MnO2-电子放电还原过程中,铋氧化态保持稳定,MnO2没有发生结构重排。

  • 标签: 二氧化锰 掺杂 改性 EXAFS MNO2
  • 简介:不同退火温度处理后纳米非晶态NiB和NiP合金催化剂XAFS和XRD结果表明,在300℃温度退火后,纳米非晶态NiB合金晶化生成纳米晶Ni和晶态Ni3B中间态;纳米非晶态NiP合金直接晶化生成稳定晶态Ni和Ni3P。在500℃温度退火后,NiB和NiP样品都晶化为金属Ni,但NiB样品中Ni原子周围局域结构与金属Ni箔几乎相同,而NiP样品由于Ni原于受到元素P影响,生成晶态Ni结构有较大畸变,结构与金属Ni相差很大。

  • 标签: XAFS方法 纳米非晶态合金 NiB合金 NiP合金 结构 镍硼合金
  • 简介:高剂量X射线粉末衍射测试说明升高温度有利于γ-Al2O3/Si外延生长,单晶衍射法证明应用低压CVD和高真空外延技术在我们实验室生长出γ-Al2O3/Siuj单晶薄膜。它们结晶关系是(100)γ-Al2O3//Si,[010]γ-Al2O3//[010]Si。

  • 标签: 异质外延 氧化铝 X射线 测试 半导体
  • 简介:通过原位担载法将铁系催化剂担载于煤表面,考察了催化剂前驱体相态、配位环境以及在载体表面的分散状态。采用X射线吸收精细结构和X射线衍射法对原位担载型铁系催化剂前驱体进行了表征。结果表明,催化剂前驱体在煤表面以非晶态、高分散形式存在,其化学组成主要为FeOOH,且催化剂前驱体分散程度与载体煤物理化学性质有关。

  • 标签: 表征 硫化铁 原位担载 催化剂 前驱体 煤液化
  • 简介:用X射线摇摆曲线和掠入射衍射、透射电镜、原子显微镜等实验技术研究了MBE方法生长Si缓冲层生长温度对SiGe/Si异质结结构影响。结果表明,所研究SiGe外延层晶格发生完全弛豫,但表面粗糙度和界面失配位错随Si缓冲层生长温度而变化,最佳生长温度为450℃;缓冲层晶格应变是达到高质量SiGe外延层主要原因。

  • 标签: Si缓冲层 生长 温度 SiGe外延层结构 X射线 晶格
  • 简介:小角X射线散射(SAXS)是一种有效、重要亚微结构分析手段。本文介绍了SAXS基本原理、实验方法和数据处理方法尤其是对于非理想两相体系解析方法及其在溶胶-凝胶法制备多孔材料研究中应用。

  • 标签: SAXS 溶胶-凝胶法 多孔材料 孔结构隙 小角X射线散射
  • 简介:根据参加相关审评和监督活动经验,说明在审评和监督过程中所采取思路和策略,同时也澄清了就检验方法替代申请所产生若干问题,并提出了一些建议。

  • 标签: 在役检查 方法替代 若干问题 ASME规范 应用 中国
  • 简介:秦山三期核电站在工程建造期间,1号机组反应堆主热传输(PHT)管道一个管段安装偏离了原设计,本文对这一事件发生原因以及最终采取焊接修复措施进行了分析和总结.

  • 标签: 核电站 主管道 焊接 安装
  • 简介:本文在分析了北京同步辐射室4B9B原束线低能分支构造及弊病后,在不影响束线高能分支性能及总体机械结构基础上提出了改进方案。文中不仅详细介绍了该设计方案,同时也介绍了97年4月份专用光开始前夕调试工作及出光后束线性能测试工作,测试结果完全符合设计要求。该束线在这次同步辐射专用光实验中充分发挥了改进后优势,取得了令人满意结果。

  • 标签: 4B9B束线 低能分支 性能改进 北京同步辐射室 X光光束线
  • 简介:本论文主要利用同步辐射白光貌相术和单色光貌相术、常规X射线衍衬貌相术。同步辐射Laue衍射、高分辨X射线衍射、光学显微术,对KTP系列晶体中生长缺陷、畴结构组态和对物理性能影响,以及KTP晶体在外电场作用下结构变化作了观察、研究和探讨。

  • 标签: KTIOPO4 同步辐射 磷酸钛氧钾 晶体结构 白光貌相术 单色光貌相术