简介：为了解决不同厚度下平行平晶的多表面干涉效应对光学元件面形检测的影响,提出了基于波长移相调谐原理的多表面干涉面形检测方法。根据波长移相调谐原理,推算出不同厚度下被测元件与测试腔长的比例关系,通过对多表面干涉图进行离散傅里叶变换,进而提取出平行平晶前后表面面形的相位信息。实验结果表明：与ZYGO公司GPI干涉仪测量结果对比,厚度分别为10mm和40mm的两块平行平晶,测试结果偏差很小,验证了算法的有效性。

简介：基于液晶可调滤光片（LiquidCrystalTunableFilter,LCTF）的分光原理,设计一种工作谱段为400~720nm,焦距4.5mm,视场角140°,F数为1.28的广角多光谱成像光学系统。该光学系统由前端光学镜头、LCTF和成像镜头组成,其中前端光学系统镜头将入射光束进行扩束,同时将入射光束的广角视场缩小至LCTF可接收角度范围内;LCTF利用液晶材料的电控双折射效应,实现对某一波长光信号的选择透过。根据多光谱成像系统的总体方案,对光学系统的各光学参数进行合理选取。设计结果表明,整个系统在120lp/mm的空间频率处轴上及轴外的调制传递函数MTF均大于0.4。

简介：使用傅里叶变换光谱仪（FTIR）测试甚长波宽波段（6．4～15μm）红外探测器响应光谱的过程中，发现短波方向响应光谱异常。通过分步测试分析发现：探测器和放大器工作在非线性工作区导致某些情况下仪器信号发生饱和，引起了短波方向响应光谱畸变的现象。对FTIR测量甚长波宽波段（6．4～15μm）红外探测器响应光谱的畸变现象进行了分析，认为探测器的响应时间是影响其响应光谱的重要因素，并通过试验确定了测试系统对不同探测器所设置的测试参数，消除了响应光谱畸变的现象，并提高了测试准确度。