简介：利用10MeV质子对130nm部分耗尽SOIMOS器件进行辐照,测试了在不同辐照吸收剂量下,器件的辐射诱导泄漏电流和栅氧经时击穿寿命等参数,分析了质子辐照对器件TDDB可靠性的影响.结果表明：质子辐照器件时,在Si-SiO2界面产生的界面陷阱电荷,增加了电子跃迁的势鱼高度,减少了电荷向栅极的注入,减小了器件的RILC,增加了器件的TDDB寿命.
简介：有效参与旨在开发学生智力。培养学生创新能力与实践能力。离开学生的有效参与不可能有真正的学习结果，因此有效参与是学生自主学习的保证。高中化学教学中如何进行有效参与教学，本文作一番探讨。
简介：【本节需学习的内容】本节教材由“长度的单位及测量”、“时间的单位及测量”两个部分组成，介绍长度的特殊测量方法以及长度和时间的估测．
简介：
质子辐照对130nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响
新课标下高中化学教学中学生有效参与的“五让”策略
第五章 物体的运动：第一节长度和时间的测量
关于台湾地区“五年制工业专科学校适用”的《物理》教材研究报告
