简介：利用正交变换法，给出一元线性回归假设检验定理的一种直接证明．这种证明方法可供在数理统计教学中作参考．

简介：本文将kyfan的一个不等式作另外一种形式的推广,从而改进了[1]中的工作。

简介：

简介：第一部分：《代数》（初一下）二元一次方程组的教与学第１课二元一次方程组一．教学目标：能正确叙述和识别二元一次方程，能检验某对数值是否满足某个二元一次方程．能说出并能识别二元一次方程组；能说出二元一次方程组的解并能检验其解．二．发现、探索、归纳活动：（...

简介：一、填空：（每小题２分，共１４分）１、表示关系的式子叫做等式，举出一个等式的例子。２、举出一个一元一次方程的例子，它的解是。３、等式两边都乘以（或除以）（除数），所得结果仍是等式。它在解一元一次方程的步骤中的应用是去分母和。４、一元一次方程的定义是，...

简介：给出了一类一阶常系数高次微分方程的特征方程解法．

简介：

简介：1。了解不等式、不等式的解集的概念，会在数轴上表示不等式的解集；掌握不等式的三条基本性质，并会用它们解一元一次不等式；了解一元一次不等式组的解集的概念，会解一元一次不等式组．

简介：本文通过对两道高考压轴题中信息的提取及有效利用分析,展示运用化“一般”为“特殊”的方法解决复杂问题的思维过程.并对日常教学中如何提高学生信息提取及处理能力提出建议和方法.

简介：<正>1.计算832(19/125)÷0.3=2.如果(7/12-1/4)÷5/12-(□-2/3)=1/5,方框代表的数是__。3.三角形数和正方形数如图1-1所示:

简介：TN1595010522光电器件近年来的发展趋向=Reviewofrecentdevelopmentinoptoelectronicdevices[刊,中]/缪家鼎(浙江大学.浙江,杭州(310027))//半导体光电.—1994,15(1).—1—6文章从光电器件的单元技术、成像器件和垂直腔面发射半导体激光器三方面评述了光电器件的进展,说明它是一个充满活力的研究领域。图12表1参2(任延同)TN1595010523光学器件与光计算机=Opticaldeviceandopticalcomputer[刊,中]/张桂萍(河北大学电子系,

简介：

简介：<正>一、判断题(每小题2分,共24分)1.如图:a/b,直线a大于直线b.()2.经过一点只能作一条直线.()3.两点确定一条线段.()4.线段OA和线段AO是同一条线段.()

简介：本文证明了：如果Ｇ是２连通无爪图且Ｇ中不含同构于Ｚ３．Ｄ的导出子图．则Ｇ是Ｈａｍｉｌｔｏｎ图（除Ｇ≌Ｇ１．Ｇ≌Ｇ２外）。

简介：一次函数是初中学生学习函数的第一个阶段,其基础性和重要性不言而喻,中考对函数的考查属重头戏,对一次函数的考查十分关注.通过一题多变把一次函数的有关基础知识横纵向联系,把以前学习的方程（组）、不等式（组）等统一起来认识,逐步达到新旧知识的融会贯通,从而进一步体会一次函数的重要性,通过一题多变能更全面、更快捷地掌握知识和技能.

简介：一、填空题１．某数的１２比它的３倍小４，则这个数为．２．当ｘ＝时，代数式ｘ－１与２ｘ－１４相等．３．单项式３ａ２＋ｘｂ４与－１２ａ５ｂ２（ｙ－３）是同类项，则ｘ＝，ｙ＝．４．在公式Ｓ＝１２（ａ＋ｂ）ｈ中，Ｓ＝１２０，ｈ＝１５且ｂ＝２ａ，则ａ＝．５．填出解方程０．１－０．２ｘ０．３＝１－０．０１ｘ－０．０２０．０６各步的依据：解　１－２ｘ３＝１－ｘ－２６（　　）２（１－２ｘ）＝６－（ｘ－２）（　　）２－４ｘ＝６－ｘ＋２（　　）－４ｘ＋ｘ＝６＋２－２（　　）－３ｘ＝６（　　）ｘ＝－２（　　）６．三个连续奇数的和为１０５，则三个数为．７．某人从甲地到乙地，原计划用６小时，因任务紧急，每小时比原速多行

简介：在有界区域上研究了一类非线性微分方程解的存在唯一性。

简介：<正>一、填空(每空3分,共33分)l.由2x+3y+1=0,可以得到用x表示y的式子y=__。2.由x=-1/3y+2,可以得到用x表示y的式子y=__。

简介：一元一次方程教与学变式研究第１课等式和它的性质一、教学目标：能举例说出等式的意义和等式与代数式的区别，能利用等式的两条性质将简单的等式变形。二、等式和方程的趣话：（兴趣变式）丁老师风趣地讲：“同学们，请你心中想定一个数，把它减去１，再除以２，然后把结...

简介：随着有色金属选冶技术的发展，有色金属物料越来越复杂，对分析检测要求越来越高，为了加强各相关企业间的交流与合作，促进有色金属行业分析技术的推广与规范，进一步提升新技术、新仪器、新方法在有色金属分析中的应用，由中国分析测试协会、中国有色金属学会、中国矿业联合会、北京材料测试服务联盟主办，北京矿冶研究总院、国家重有色金属质量监督检验中心、《中国无机分析化学》编辑部承办，拟于2013年8月在北京举办“第一届全国有色金属分析检测与标准化技术交流研讨会”。会议将围绕有色金属分析中的热点、难点问题，探讨复杂原料与中间物料中主要计价元素及有害元素、高纯金属中痕量杂质元素分析方法，交流科研成果和实践经验。会议拟邀请有关领导以及国内分析测试领域知名专家学者作专题报告。热诚欢迎大家踊跃投稿和参加会议。