简介：文章重点介绍了内嵌于DDS的DAC线性参数的一种测试方法。该测试方法的优点是开发周期短、测试成本低、可在多种测试机台上实现。解决了DDS中不能对DAC输入端直接操作的难题，同时不影响其他参数的测试。文章基于LabView软件，使用示波器或NI板卡，结合其他仪器对DAC的静态参数进行了研究并试验。其中示波器或NI板卡完成信号采集，其他仪器完成芯片配置，微机对整个流程进行控制并将测试结果按序输出，实现测试自动化。通过试验证明该方法可行，测试效率高，测试结果达标并稳定。

简介：三氯氢硅（SiHCl3）作为硅外延片的关键原材料，其纯度直接影响着硅外延层的性能。一般三氯氢硅纯度的测试方法有两种，除采用化学分析方法测试外，通常用生长不掺杂外延层（本征外延层）的方法来确定。即采取测量三氯氢硅生长后的硅外延本征电阻率的方法来衡量其纯度。而影响硅外延本征电阻率的主要因素为系统的自掺杂，增加硅外延的生长时间可以有效抑制系统自掺杂，但无限制的增加生长时间必然导致生产成本的增加。文中通过实验数据，确定了一个合理的硅外延本征生长工艺过程，从而达到了评价三氯氢硅纯度的目的。

简介：首先，介绍了网络中心化军事信息系统的概念，从系统技术、作战应用和完成任务等能力出发，初步建立了一个多维多层次的系统能力评估指标体系；然后，提出了底层指标和综合类指标的评估方法；最后，以信息服务能力指标评估为例，介绍了基于仿真试验的评估方法。

简介：文章对带有外观检验功能的TO-252晶体管全自动测试／打标分选机的工作原理、软件和硬件设计进行详细介绍。该设计中首次引入测试推管机构，以解决因TO-252管脚太短、产品管脚与金手指接触不良引起的产品电参数测试误测问题；同时，在生产流程中引入外观检验工位，对测试、打标后的产品打标内容和管脚外型尺寸进行自动检验，很好地避免了成品中出现外观不良的产品。实践证明，该机具有自动化程度高、运行高速可靠、操作安全方便、维护简单、性价比高等优点，客户使用后反映良好。

简介：为了完善客户服务，KIC拓展了在墨西哥的业务网络。过去，KIC在墨西哥的客户必须把KIC产品寄往美国维修。从2012年9月1日开始，墨西哥客户就可以把他们的温度曲线测试仪以及其他KIC设备送往JAL瓜达拉哈拉进行维修或校准。位于瓜达拉哈拉的新办事处将保证周转更快、服务费用更低。维修产品时再也不用办理海关手续了。

简介：本文从信息资源整合的角度，对政府数据中心的建设进行了研究，结合扬州市的实际，从基础设施、数据资源和应用平台三个层次开展对政务信息资源的整合，实现建设了扬州市政府数据中心。

简介：针对现有体系结构框架的不足,在分析网络中心化环境下系统之系统（SoS）构建基本要求的基础上,提出了一种面向网络中心化信息系统的体系结构描述框架。该框架具有企业体系结构框架和系统体系结构框架的双重优点。通过借鉴美国国防部体系结构框架（DoDAF）的相关视图产品,为网络中心化信息系统的体系结构设计提供支撑。

简介：KIC宣布新型ProBot于2012年10月正式开始装运。ProBot可自动确认每件印刷电路板在回流焊炉中的处理是否符合规格。疑似有缺陷的印刷电路板然后可被送至批次性X射线检测系统。因为通常的批次X射线机仅可检测少量组装的印刷电路板，ProBoL则可进行更有效的抽样。

简介：各有关单位：2012年是我国工业和信息化部发布《电子信息制造业“十二五”发展规划》第一年，也是我国电子信息产业机遇与挑战并存之年。我国电子信息产业发展将受益于基础行业快速增长、信息化建设全面深化、产业转移及布局优化调整，同时国际市场需求疲软、移动互联网产业发展差距拉大、企业经营难以短期扭转将成为面临的突出问题。