电子元器件失效分析及技术发展趋势研究

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摘要 摘要:在当前电子工程科学应用技术快速进步发展的大背景下,集成电路技术应用覆盖范围也在不断扩大,为有效提高应用集成电路正常运行时的可靠性,必须一定要认真做好相关电子科学元器件短路失效原因分析控制工作。本文就针对应用电子集成元器件技术失效设计原因分析展开讨论,从设计失效原因现象分析确认、样品材料制备与质量保存、电性性能分析和电子物理特性分析等等多个关键方面进行入手,探讨应用电子集成元器件设计失效原因分析相关技术应用方法,并重点指出应用电子集成元器件设计失效原因分析相关技术当前发展所存在面临的重大挑战,旨在大大提高电子集成电路设计可靠性。
作者 黄倩
出处 《科学与技术》 2021年8期
出版日期 2021年07月08日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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