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一种SRAM失效问题等效分析方式

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摘要摘要：在控制器芯片设计中，SRAM作为不可缺少的一个IP，其设计的稳定性及对失效率的精准控制成为芯片设计的重中之重，在SRAM的设计及布线时的不规范，导致SRAM失效率居高不下。本文基于项目实践通过对SRAM在低温-25摄氏度下，SRAM高失效率问题进行分析和研究，明确了在IP设计以及布线时线间距走向对失效率的作用，通过调节芯片设计及布线方式，使SRAM失效率基本降为0，问题得到有效解决。

DOI rj8mmrk740/5542434

作者张磊

机构地区北京中电华大电子设计有限责任公司，北京，100102 射频识别电路检测技术北京市重点实验室

出处《科学与技术》 2021年15期

关键词 SRAM，失效，IP，失效分析，验证

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2021年09月30日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）