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2021年16期
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一种SRAM失效问题等效分析方式
一种SRAM失效问题等效分析方式
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摘要
摘 要:在控制器芯片设计中,SRAM作为不可缺少的一个IP,其设计的稳定性及对失效率的精准控制成为芯片设计的重中之重,在SRAM的设计及布线时的不规范,导致SRAM失效率居高不下。本文基于项目实践通过对SRAM在低温-25摄氏度下,SRAM高失效率问题进行分析和研究,明确了在IP设计以及布线时线间距走向对失效率的作用,通过调节芯片设计及布线方式,使SRAM失效率基本降为0,问题得到有效解决。
DOI
ojz3ewxrd5/5568622
作者
张磊
机构地区
北京中电华大电子设计有限责任公司,北京,100102
出处
《科学与技术》
2021年16期
关键词
SRAM,失效,IP,失效分析,验证
分类
[建筑科学][建筑技术科学]
出版日期
2021年10月19日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
科学与技术
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