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2023年4期
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集成电路老化试验与检测技术研究
集成电路老化试验与检测技术研究
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摘要
摘要
DOI
pd57e7ewj7/7034795
作者
陈海锋
关卫斌
张尚福
机构地区
(广东产品质量监督检验研究院,广东,广州,510000)
出处
《中国科技信息》
2023年4期
关键词
集成电路
老化试验
检测技术
分类
[][]
出版日期
2023年04月21日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国科技信息
2023年4期
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