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一种测试芯片测试装置的机构研究设计

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摘要摘要：本文设计了一种新的测试芯片测试装置，通过更简单的结构就实现对芯片多个位置的功能检测。本设计在于提供一种通过一个电机驱动蜗轮蜗杆，再带动单凸轮轴实现多个运动的测试装置，以解决现有技术中测试芯片的测试装置内部机构复杂，体积大费用高的问题。

DOI 0dpexmq942/7929845

作者周生起

机构地区山东卓越生物技术股份有限公司，山东烟台 264034

出处《中国电气工程学报》 2023年17期

关键词电机驱动蜗轮蜗杆& 凸轮轴传动机构机构研究设计

分类 [文化科学][]

出版日期 2024年01月02日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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中国电气工程学报

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