摘要
摘要:本文的核心在于探讨如何设计并应用自动化测试平台来进行芯片温度测试对性能的影响分析。我们深入探讨了芯片温度对性能的影响，这是为了引发读者对于该问题的关注和认识。接着，我们详细阐述了设计自动化测试平台的关键步骤与方法，包括系统架构、传感器选择、数据采集等方面，以期为读者提供可行的解决方案。最后，通过对该平台的应用进行分析，我们展示了其在芯片温度测试中的有效性，这不仅验证了我们的设计理念，也为芯片性能评估提供了一种新的、更加高效的方法。通过本文的阐述，读者将能够更加深入地理解芯片温度测试的重要性，以及如何利用自动化测试平台进行更加准确、可靠的性能分析。
出版日期
2024年03月29日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
