集成电路芯片机器视觉检测技术研究

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摘要 摘要:随着集成电路芯片技术的日益精进和应用领域的不断拓展,机器视觉检测技术已经成为各行各业中不可或缺的重要工具。在提升生产线质量控制方面,集成电路芯片机器视觉检测技术具备重要的应用潜力。本文主要介绍了基于机器视觉技术对芯片进行自动缺陷识别与定位的方法,并给出了相应的实验结果,为推动集成电路行业的进步提供有益的指引。
作者 孙勇
出处 《中国建筑业年鉴》 2023年31期
出版日期 2024年07月12日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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