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《中国集成电路》
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2018年9期
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EDA阶段白盒验证技术研究与应用
EDA阶段白盒验证技术研究与应用
(整期优先)网络出版时间:2018-09-19
作者:
张俊杰;常迎辉;张勇
电子电信
>微电子学与固体电子学
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资料简介
高效的白盒验证方法极大地提高了芯片前端开发的工作效率。本文对几种典型电路(仲裁逻辑、中断逻辑,FIFO逻辑)进行了白盒验证测试,并总结了其高效的验证方法。
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高效的白盒验证方法极大地提高了芯片前端开发的工作效率。本文对几种典型电路(仲裁逻辑、中断逻辑,FIFO逻辑)进行了白盒验证测试,并总结了其高效的验证方法。
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来源期刊
中国集成电路
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