干式并联电抗器包封进水对运行可靠性影响的试验研究

(整期优先)网络出版时间:2006-12-22
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干式空心并联电抗器在运行中曾发生多起烧损事故。人们在分析这些事故中普遍认为电抗器包封进水是导致其事故的主要原因,并对此采取了许多措施,然而运行的结果是事故并没有因此而减少。对此,作者对包封进水一。电投器可靠性的影响进行了试验研究。文章介绍了进行该试验研究所用试品、试验方法、试验过程及结果,并对试验过后的结果进行了对比分析。试验结果认为包封进水对电抗器可靠性有影响,但不是主要因素。建议进一步进行物理研究,并有针对地采取措施。