广东美的制冷设备有限公司,528300
摘要:IGBT失效研究是提升功率器件可靠性的有效途径。本研究通过搭建符合实际条件的IGBT测试工装,实际测试了相同规格、不同晶圆品牌短路耐量的测试数据。结果表明短路耐量越大时,相对应市场维修率就低。其原因可以归结为,短路耐量可以表现出器件的强壮性,可以抵御大电流冲击的能力,而市场失效是和大电流的冲击是有很强的相关性的。
关键词:IGBT 短路耐量 市场维修率 失效分析
1 引言
国内家电市场上,失效器件占比比较高的就是电力电子的核心单元PFC电路。而与PFC电路中,失效最多的就是IGBT。针对IGBT的应用,我们时常关心其额定电压(Vce)、漏电流(Ice)、额定电流等一些重要的参数,但是忽略了其重要的一个特性参数:短路耐量。短路耐量是指[1],在非PFC条件模式下,电路负载发生短路,IGBT导通,使得大电流经过IGBT内部,直至IGBT损坏,期间所承受大电流冲击的时间称之为短路耐量。现在国内外市场上,大部分器件的规格书上,对此短路耐量的参数没有一个明确的要求规范。
短路耐量实际上市表现出来IGBT承受时间的长短,表现在其本体是否“健壮”。研究短路耐量,可以对器件进行较为快速的极限参数的评估。不同于可靠性寿命试验,在特定条件下运行较长时间,一般情况下表可靠性寿命试验要求1000个小时。而短路耐量这个参数不同,可以通过搭接常一个电路系统,短时间内激发IGBT动作直至失效,是比较快速评价IGBT的一种手段。
2 实验背景
针对于家电市场上IGBT的失效,我们通常回去按照失效分析方法进行电性能测试、无损检测和开封检测。而针对于市场上最常见的失效模式为过流,其可以通过短路耐量的测试方法瞬间激发出来。图1表示市场上典型的IGBT失效形貌,图2表示通过短路耐量测试后,失效的样品形貌,两者表现为典型的过流失效。其中击穿点为IGBT的晶圆,IGBT内部续流二极管的晶圆,均未受到损伤。为了验证市场失效和此参数的关联性,我们搭建了如下电路,如图3所示:
图1 市场上IGBT失效形貌 图2 短路耐量实验后IGBT的失效形貌
图3 短路耐量的测试原理图
2.1实验过程
针对同一厂家不同产地的IGBT晶圆和快速恢复二极管晶圆,我们使用图3的电路测试出了物料的短路耐量TSC和短路峰值电流Isc,测试结果如下图所示。其中Vge代表施加的门级电压(脉冲波);Vce代表C-E端的电压值;Tsc代表短路耐量,Esc代表器件承受的脉冲能量
图4 1# 图5 2#
图6 3# 图7 4#
Tsc和Isc的电性测试结果和短路特性测试结果如下表1:
表1:1~4#电参数特性及短路耐量参数特性汇总表
IGBT晶圆厂家 | 续流二极管晶圆厂家 | C-E击穿电压 BVces | G-E阈值电压VTH | C-E饱和压降Vce(sat) | 短路耐量TSC | 短路峰值电流Isc | 短路能量Esc |
A | A | 705V | 6.26V | 1.705V | 7.9uS | 182A | 510mJ |
A | B | 703V | 6.27V | 1.705V | 7.88uS | 181A | 501mJ |
B | A | 692V | 5.56V | 1.740V | 5.89uS | 213A | 431mJ |
B | B | 699V | 5.23V | 1.175V | 3.37uS | 245A | 278mJ |
根据图4至图7以及表1结果表明:各个IGBT晶圆厂和续流二极管组合时,A厂家的IGBT晶圆测试时,TSC和Isc差异不大;当IGBT晶圆变更为B晶圆厂家后,TSC和Isc就有较大的差异。另外,不同产地的二极管的组合,对整个IGBT的性能没有什么特别的影响。此外,能明显看出,A厂家的IGBT晶圆TSC和ESC相对稳定,而且比B厂家离散性小。
2.2市场数据
由于短路耐量没有纳入到我司的标准或者行业通用标准中,此测试数据仅做了留底存档,后期市场上我们仅使用了1#和3#的样品经过一段时间使用过后,收集了市场维修的数据,结合供货情况,市场维修率数据见表2.
表2 1#样品和3#样品的市场维修率(数据仅显示相对值)
样品型号 | 1# | 2# |
维修率 | 38.7% | 61.3% |
表2和表1的数据可以看得出市场维修率和短路耐量相关,当短路耐量大时,市场维修率就相对变小。
2.3 机理检讨
针对市场失效的样品做了开封形貌对比测试如图2和图3所示,两者失效形貌类似。以过流失效为主。在市场上,导致短路失效的可能由这几部分原因组成:
1、用户使用时突发的外部浪涌导致过电失效;
用户使用时,比如在变电站、变压器旁边使用,电压电流信号不稳;或者,雷击浪涌电流注入到正在工作控制器的电网上面,导致PFC电路浪涌过冲导致的失效。在此场景下,短路耐量低,经受大电流的承受时间短、承受不了大电流的冲击,可能导致器件在运行过程中加速失效。
2、PFC电路驱动信号误动作导致IGBT C-E两端持续通入大电流,导致器件过流损坏;
第二种情况就是,IGBT门级驱动所处各种因素电磁干扰,导致信号失真。更有甚者,导致门级信号持续通入电压Vin>Vth,持续存在大电流的情况。IGBT及相关PFC电路来不及保护,导致C-E极长时间流过大电流,从而导致失效。再此场景下,短路耐量过低,器件承受大电流能力降低,可能加速失效。
3、运行过程中IGBT温升过高导致器件过流承受低从而导致失效
第三种情况:当IGBT温升过高,承受能力下降。例如:在控制器满负荷运行的情况下,晶圆与环温差异较大,晶圆温度处于结温上限,其更容易失效。当器件短路耐量变大时,结温上限也同步提高,对此类失效可以抑制很多。
4、器件本身制造缺陷导致市场早夭失效
第四种情况,器件自身的缺陷,导致使用时早夭的失效,比如绑定线的弹坑,以及通流能力较弱的晶圆、和塑封IGBT平整度较低导致IGBT在安装过程中存在应力的情况。以上的自身缺陷,容易在实际使用过程中早夭失效,当器件的短路耐量提升时,此类问题出现的概率就会相对偏小,从而降低市场维修率。
3 总结
IGBT短路耐量和市场维修的关联性较大:短路耐量大,短路所能承受的电流大时,市场上失效的概率就会变小。另外,市场上可能存在多种大电流冲击、门级信号误动作、温升过高、器件装机后的早夭失效,均可已通过短路耐量这个参数映射出来,主要是因为当IGBT短路耐量变大时,器件本身抗电流能力变大,更能降低在使用过程中电流的突变导致的失效受损。
参考文献
1.利年百明. PFC电路的电流检测与过电流保护最优部件选[C]// 2014输变电年会.
通信作者简介:邓璐璐,男,1990年09月生,毕业于电子科技大学材料科学与工程专业,现任广东美的制冷设备有限公司 零部件评价主任工程师,主要从事电子元器件可靠性研究,电子邮箱lulu.deng@midea.com。