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  • 简介:摘要本文旨在讨论利用控制图对冶金行业实验室检测设备精度进行监控。主要探讨X控制图和R控制图的理论方法在冶金分析设备使用中的应用。结果表明,使用控制图对冶金分析设备的精度进行监控,能够及时有效地发现冶金分析设备精度的异常情况,能够实现对冶金分析实验室检测设备精度的有效管控。

  • 标签: 控制图,设备精度,冶金分析设备