简介：目的：分析颌面颈多间隙感染老年患者的临床特征,运用多变量统计模型确定严重并发症及总住院时间预后独立影响因子。方法：对两家三级甲等医院口腔颌面外科收治的285例诊断为颌面颈多间隙感染的病例进行回顾性分析。所有病例根据年龄分为老年组和成年组。研究内容包括一般资料、临床指标（全身系统性疾病、病因、症状发作到入院治疗的时间、受累间隙的数量和分布）、实验室检查和治疗结果（切口数量、住院天数和并发症）。采用SAS8.0软件包对数据进行t检验、Fisher＇s确切概率和χ^2检验分析。结果：颈部多间隙感染是预测严重并发症的独立影响因子（oddsratio,OR=2.45）;并存病（OR=2.10）、非牙源性感染源（OR=1.89）、白细胞总数〉12.0×10^9/L（OR=3.57）、切开引流前C反应蛋白〉150mg/L（OR=2.18）、同时需要外科与全身治疗（OR=4.66）是预测总住院时间的独立影响因子。结论：多因素预后分析可有效揭示颌面颈多间隙感染的独立危险因素,为临床上治疗老年颌面颈多间隙感染提供了重要的参考依据。

简介：2016年4月29日至5月3日，第116届美国正畸年会在美国旅游城市奥兰多召开。作为世界上最大规模的正畸会议，美国正畸学会还是一如既往的吸引着世界各地上万人参加。

简介：目的：评价锥形束CT（CBCT）结合显微超声技术诊断治疗老年钙化根管的临床效果。方法：选择我院60例老年患者的108个钙化根管作为研究对象,均因传统根管治疗不能成功疏通根管,应用CBCT技术检查判断根管口的位置,根管走向及位置,再应用显微超声技术去除髓腔内及根管内钙化组织,探查并疏通根管,统计根管疏通成功率。结果：108个钙化根管中,95个根管成功疏通,成功率87.9%,根颈1/3钙化根管疏通率98.5%,根中1/3钙化根管疏通率80.0%,根尖1/3钙化根管疏通率53.8%。结论：锥形束CT与显微超声技术联合使用,对疏通钙化根管具有明显效果,为老年钙化根管提供了有效的诊治方法。

简介：目的探讨多曲方丝弓（MEAW）技术矫治恒牙期骨性下颌偏斜的矫治原理和临床疗效。方法选取2006-2014年就诊于苏州卫生职业技术学院附属口腔医院正畸科门诊的骨性下颌偏斜患者16例，选用0．56mm×0．71mmMBT系统托槽，采用MEAw技术进行矫治。矫治前后拍摄X线曲面断层片及头颅侧位片，并进行定点测量，对测量结果进行比较分析。结果16例骨性下颌偏斜患者平均矫治时间20个月，均取得良好的矫治效果。头影测量分析显示，治疗后下磨牙远中直立移动，平均远中直立7．63°，平均远中移动3．38mm；下前牙平均舌倾内收3.31mm；下颌骨治疗前后不对称，治疗前后颌骨改变小。结论采用MEAW技术可有效矫正恒牙期骨性下颌偏斜，为代偿掩饰性矫正。

简介：目的：通过测量髁突颈后缘锚固钉植入位置骨皮质的厚度，为建立2种医用锚固钉植入髁突颈后缘拔出力的有限元模型分析提供数据参考。方法：在本院拍摄CT的成年患者中，随机选取116例，共232侧髁突．利用CT采集颌面部数据并测量髁突颈后缘骨皮质厚度。采用SPSS17．0软件包进行统计学分析。结果：232侧髁突颈后缘骨皮质厚度均值为2．05mm，男性骨皮质厚度均值为2．04mm，女性骨皮质厚度均值为2．05mm，两者之间无统计学差异：20～34岁髁突颈后缘骨皮质厚度均值为2．05mm．35．49岁均值为2．06mm,≥50岁均值为2．03mm。经统计学分析．只有20-34岁和35-49岁2组比较无显著差异（P〉0．05），其他2组之间均具有显著差异（P〈0．05）。结论：本实验为建立2种医用锚固钉植入髁突后缘拔出力分析的有限元模型奠定了基础．骨皮质厚度与锚固钉的稳定性有着重要关系。

简介：目的通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描后沿垂直于试件长轴将试件平均切成6段,对每段剖面进行光学显微镜观察并获取5个剖面图像。根据剖面位置确定显微CT扫描断层图像,并将显微镜图像与显微CT图像进行灰度差值匹配比对,分析显微CT对全瓷材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。对CT扫描结果进行三维重建,比较二硅酸锂双层瓷试件内部缺陷的二维形貌与三维形貌的差异。结果显微镜图像与显微CT图像的平均相似度为（83±7.9）%;缺陷的二维剖面形貌与三维形貌存在较大差异。结论显微CT能够可靠地无损探测二硅酸锂双层瓷材料的内部缺陷结构,但对尺寸接近探测分辨率的孔洞成像较模糊。三维重建分析较二维形貌观察能更全面地反映缺陷的形貌。

简介：目的通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描后沿垂直于试件长轴将试件平均切成6段,对每段剖面进行光学显微镜观察并获取5个剖面图像。根据剖面位置确定显微CT扫描断层图像,并将显微镜图像与显微CT图像进行灰度差值匹配比对,分析显微CT对全瓷材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。对CT扫描结果进行三维重建,比较二硅酸锂双层瓷试件内部缺陷的二维形貌与三维形貌的差异。结果显微镜图像与显微CT图像的平均相似度为(83±7.9)%;缺陷的二维剖面形貌与三维形貌存在较大差异。结论显微CT能够可靠地无损探测二硅酸锂双层瓷材料的内部缺陷结构,但对尺寸接近探测分辨率的孔洞成像较模糊。三维重建分析较二维形貌观察能更全面地反映缺陷的形貌。