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3 个结果
  • 简介:用单辊甩带法制备了不含高生物毒性元素的Ti60Zr10Ta15Si15非薄带,并在高于其化开始温度的不同温度下对该非薄带进行了真空退火,研究了该非薄带在磷酸盐缓冲溶液(PBS)中的电化学腐蚀行为及热处理对其显微组织及其电化学行为的影响。结果表明,用单辊甩带法制备的Ti60Zr10Ta15Si15金属薄带为完全的非晶态结构,其玻璃转变温度和化开始温度分别为759K和833K,经过878K真空热处理后,薄带发生了部分化,在非的基底上析出了Ti相;经过938K热处理后,薄带发生了完全化,化相主要由Ti、Si3Ta5和SiZr以及TiSi组成。动电位极化测试表明,该非合金在PBS溶液中可表现出较为优异的耐蚀性能,部分化可进一步提高该合金的耐蚀性能,而完全化的合金抗腐蚀性能明显下降。

  • 标签: 钛基非晶合金 晶化 电化学腐蚀
  • 简介:通过分析浆料分散性和粘度等因素,研究分散剂和粘结剂等对碳化硅须浆料流变行为的影响,确定合适的浆料制备工艺参数。结果表明:选择合适剂量的分散剂(2wt%)能够有效减弱须之间的吸引力,减少须团簇,提高须分散性。同时选择3wt%的粘结剂能够得到粘度适宜的浆料。优化工艺参数,最终获得分散性及稳定性较好且适于流延的须浆料。

  • 标签: SIC 粘度 分散 流延
  • 简介:提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4%~0.5%、1.3%~4.2%和0.2%~0.4%。方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法的测定值吻合较好。方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非合金薄带的快速成分分析。

  • 标签: X射线荧光光谱法(XRF) FeSiB非晶合金薄带 FeSiB合金 单点法