简介:摘要:经过长期发展,我国电子元器件缺陷检查技术不断进步,已经可以全面实现内外部共同检测,但是实践研究发现大多数的检测工作仍然集中在外部缺陷,而且仍然以人工检测或者显微镜检测作为主要检测方式,不仅检测效率偏低,也容易造成资源浪费;而内部检测难度系数较高,尤其是一些精准性参数的检查过程尤为复杂,最终所提供的检测数据准确性偏低。所以近几年电子元器件出现检测技术的研发更受到重视,技术人员希望通过更加智能的电子技术和数字图像处理技术进行缺陷分析检测,基于此,本文通过五个方面内容分析,电子元器件缺陷检测技术研究与开发的主要内容。首先,分析性能参数缺陷检测技术;其次,分析外观缺陷检测技术;然后,分析检测系统架构与功能;另外,分析电子元器件表面图像获取与分割技术实现;最后,分析图像降噪与特征提取技术实现。
简介:摘要:经过长期发展,我国电子元器件缺陷检查技术不断进步,已经可以全面实现内外部共同检测,但是实践研究发现大多数的检测工作仍然集中在外部缺陷,而且仍然以人工检测或者显微镜检测作为主要检测方式,不仅检测效率偏低,也容易造成资源浪费;而内部检测难度系数较高,尤其是一些精准性参数的检查过程尤为复杂,最终所提供的检测数据准确性偏低。所以近几年电子元器件出现检测技术的研发更受到重视,技术人员希望通过更加智能的电子技术和数字图像处理技术进行缺陷分析检测,基于此,本文通过五个方面内容分析,电子元器件缺陷检测技术研究与开发的主要内容。首先,分析性能参数缺陷检测技术;其次,分析外观缺陷检测技术;然后,分析检测系统架构与功能;另外,分析电子元器件表面图像获取与分割技术实现;最后,分析图像降噪与特征提取技术实现。
简介:摘要:电子元器件进行科学筛选的同时对电子元器件的质量也进行有效的控制来使其性能得到充分的发挥。也就是说,电子元器件在厂家进行筛选之后其质量仍不能满足使用者的要求,或者一些生产厂家根本就没有对电子元器件进行筛选等。可焊性测试仪是电子元器件在生产过程中 、筛选复验和装机前进行可焊性测试的仪器 ,其技术指标包括温度 、 润湿力 、浸渍深度 、速率和时间论文依据相关国家检定规范 ,通过实践研究 ,实现了可焊性测试仪这些技术指标的校准 。所以在对电子元器件进行筛选和质量控制就必须要重视,使其筛选的力度能进一步得到提升,同时也能促进质量控制工作的完善。
简介:摘要:电子元器件进行科学筛选的同时对电子元器件的质量也进行有效的控制来使其性能得到充分的发挥。也就是说,电子元器件在厂家进行筛选之后其质量仍不能满足使用者的要求,或者一些生产厂家根本就没有对电子元器件进行筛选等。可焊性测试仪是电子元器件在生产过程中 、筛选复验和装机前进行可焊性测试的仪器 ,其技术指标包括温度 、 润湿力 、浸渍深度 、速率和时间论文依据相关国家检定规范 ,通过实践研究 ,实现了可焊性测试仪这些技术指标的校准 。所以在对电子元器件进行筛选和质量控制就必须要重视,使其筛选的力度能进一步得到提升,同时也能促进质量控制工作的完善。
简介: 摘要::现阶段,随着我国科学技术的不断发展,电子行业也得到了快速发展,使电子行业中电子元器件的应用也就越来越广泛,因此对于电子元器件的筛选和质量控制问题就广泛受到关注,为了让人们使用的电子产品更加安全可靠,其中的电子元器件极其重要,科学合理的筛选出符合的电子元器件,进行质量控制是真正发挥出电子元器件在实际应用中的性能和功能及稳定性的前提条件。这项工作的实践性较强,虽然一些生产商对电子元器件进行筛选,但电子元器件仍存在不符合应用要求的问题,甚至,有的生产厂商没有进行基础的筛选。因此,在进行一些研究项目中应用的电子元器件的筛选与质量将影响着项目研究进程及项目成果。探索出电子元器件有效筛选和控制质量的方法途径十分必要。本文通过对电子元器质量进行有效控制,来把控其性能参数,并使其功能得到充分的发挥,从而进一步使电子设备产品的质量得到保障。