简介：近日,成都中科唯实仪器有限责任公司技术研发部门通过自主设计,完成光学膜厚智能测控仪研发任务。传统的光学镀膜采用极值法膜厚监控方式,正确判定极值点是镀膜操作人员的重要操作技术,
简介：张玉奎，1965年毕业于南开大学化学系，同年到中国科学院大连化学物理研究所从事科研工作至今。2003年当选为中国科学院院士。曾在德国吐宾根大学生理研究所和美国国家环保署研究中心访问工作。现为中国科学院大连化学物理研究所研究员，博士生导师。兼任中国化学会色谱专业委员
我国研制成功光学膜厚智能测控仪
《生命科学仪器》杂志主编：张玉奎
