简介:摘要对国际上公认的两种半导体器件结壳热阻测试方法美军标MIL-STD-750F和JEDEC标准进行对比测试研究。通过双极性晶体管和MOSFET两种不同类型的器件,用Phase12进行实测,得到了不同方法下的热阻值与曲线。分析了两种测试方法原理及测试结果的差异,科研生产提供参考。
简介:摘要随着我国建筑行业的不断完善,建筑结构设计方面的能力也正在不断的提高,这也对我国的建筑业发展起着良好的推动性作用。通过将合理的科学技术运用到建筑结构设计中,能够很好的增强建筑物自身的安全性能,并且在完善结构的同时还美化了城市化建筑的构造效应以及提升企业在市场中的竞争力度,为人们提供了有安全保障和质量保障的建筑居所。然而,在建筑结构优化设计的实际实施过程中,还存在一定的复杂性因素,这就需要我们的工作人员从多方面作为出发点,充分的结合目前的实际情况来选用一套科学又合理的设计方案,以此来实现对建筑结构进行最佳的优化目标。基于此,本文将主要对建筑结构设计优化新方法进行简要性的分析与探讨。