简介:在JPCANews2006/2期杂志中发表了《日本电子电路发展指南》一文,该文是参照日本2005年版电子安装技术发展指南(RoadMap)中数据,对电子电路的技术发展作介绍,有关印制板的发展是采用达到先进批量生产的数据。所叙述的技术发展有:印制板用基板材料,包括刚性PCB、挠性PCB、IC封装载板用材料的需求:印制板高密度化发展要求,包括各种PCB线宽、线距与孔径变化:埋置元件PCB技术的发展等。
简介:简要介绍2002年日本电子元件的发展趋势及市场情况。
简介:日前由日本内存厂商Elpida发起组建的合资公司TeraProbe开始建设目前世界上规模最大的晶圆工厂,工厂的头一个客户将会是Elpida.,接着参与该合资公司的其他日本企业也会成为该工厂的客户。预计该工厂将会于10月投产,雇员300人。
简介:四通打字机诞生以来,我们的字库一直采用日立公司的芯片,由三井进口给我们。后来打字机卖火了,可能是日立的字库供应不上,也可能是三井想多赚一点钱,在未事先告知的情况下,三井用一批韩国产的芯片代替日立的芯片。
简介:
简介:日本经济财政大臣与谢野馨在22日的内阁会议上提出了2011年度的经济财政报告(经济财政白皮书),并就此次东日本大地震对日本经济的影响做了分析。受地震影响,供应链(配件供应网)断裂和电力不足等情况使受灾地区以外的城市在经济上也遭到了比以往任何一次灾害都要严重的打击。要打造“强有力应对危机的经济模式”,
简介:日本千叶大学工程系中村雅一副教授和工藤一浩教授与日本化学技术战略推进机构共同组成的联合研究小组日前在2mm×2mm的区域中集成约2800万个有机晶体管元件,开发出驱动性能更高的芯片,并在3月22日~26日于东京武藏工业大学举办的日本“第53届应用物理学相关联合演讲会”上进行了发表。
简介:无铅焊接的焊点可靠性问题受到特别重视。采取高低温温度冲击试验和高温试验,可评估Sn—Ag—Cu焊点强度。通过分析Sn-3.5Ag-0.75Cu和Sn-2Ag-0.75Cu-3Bi焊料的性能,可以研究引起焊点强度下降的因素。主要分析方法包括:使用SEM观察焊点结构变化;使用EPMA完成焊点界面合金层的元素分析。本研究通过对焊点结构变化包括Ag3Sn网格结构变化的分析,揭示出结构退化、
简介:印制电路板孔的加工形式有多种工艺方法.而目前使用的最多的为数控机械钻孔。机械冲孔由于精度较差,高精度微孔加工难以完成,而新发展起来的激光钻孔技术,由于设备昴贵也使用较少,因而数控机械钻孔加工仍是印制电路较重要的孔加工工艺方法。由于印制电路板的孔加工质量直接影响其机械装配性能和电气连接性能,因此孔加工是印制电路板不可忽视的重要步骤。要获得精度高、质量好的钻孔效果,因此首先必须对其影响钻孔工艺因素的以下几个方面进行深刻了解和研究。
简介:在所有的电力电子设备中获得最高的转换效率永远是人们追求的头等目标。在一些新标准的规定下目前很多功率转换设备都必须具备有效功率因素校正功能。对电子元件而言额外的功率损耗会增加散热器和整个设备的体积。本文研究的目的就是在不断增加设备成本的情况下将损耗降到最低。
简介:由于能源调节的持续增长,电源变得越来越复杂。人们意识到需要一个更简单的方式进行设计时,出现了计算机辅助设计工具。这篇文章就论述了此工具如何很快产生一个连续导通模式升压功率因素校正设计的优势。全部设计已经得到证实,并且会提供一些相关的公式。
简介:在200W连续导通模式功率因数校正(PFC)系统中,新一代600V砷化镓(GaAs)肖特基二极管与硅和碳化硅(SiC)二级管比较,砷化镓、碳化硅在PFC系统中的损耗减少高达25%。由于砷化镓有较低的结电容,砷化镓相对碳化硅高的通态损耗被较低的MOSFET损耗弥补了。和碳化硅技术相比,砷化镓有成本和可靠性优势。对于高频和高密度应用来说,新一代的砷化镓二级管是很有前景的。
日本的电子电路发展指南
日本电子元件的发展动向
四家联合,世界最大晶圆测试厂在日本动工
南国三年——与日本人的几次较量
1GB的记忆棒于3月在日本上市
日本经济财政白皮书:打造能有效应对危机的经济模式
日本开发出集成约2800万个有机晶体管的驱动性能更强的芯片
影响Sn-Ag-Cu焊点可靠性的因素
浅谈影响印制电路板数控钻孔的因素
第二代功率因素校正解决方案
浅谈湿处理溶液的功能受主客观因素的影响
计算机辅助设计大大简化了功率因素变换器的设计
用于高功率密度功率因素校正的新一代600V砷化镓肖特基二极管