简介：利用解析和数值计算的方法计算了色散光学模型中色散积分的数值,并与Quesada等人的解析计算作了比较,结果显示两者结果基本一致。

简介：O436.32001031598偏振成像技术提高成像清晰度、成像距离的定量研究=Quantitativestudyofimprovementsofimagingcontrastandimagingrangebypolarizationtechnique[刊,中]/曹念文,刘文清,张玉钧(中科院安徽光机所.安徽,合肥(230031))∥物理学报.-2000,49

简介：O436.32000063792角锥棱镜的偏振效应=Polarizationpropertiesofretroreflectors[刊,中]/刘海宁,李真(天津大学精密仪器与光电子工程学院.天津(300072))//激光杂志.—2000,21(1).—15—16,25角锥棱镜应用于偏振光干涉仪时,其偏振性能将直接影响到信号质量,一般会引入偏振混迭或频率混迭,严重时激光被消偏,使仪器无法正常工作。利用Jones矢量和坐标变换方导出角锥棱镜的Jones矩阵,计算了线

简介：利用分光计得到了汞灯透过三棱镜后五种不同谱线的最小偏向角,计算出了它们的折射率,基于Cauchy,Hartmann,Conrady三种色散公式,拟合得到了三种不同色散公式的的色散系数和色散曲线。

简介：O436．32005031656Lyot型消偏器对不同类型光源的消偏性能影响=Per-formanceanalysisofLyotdepolarizerondifferentopticalsources[刊,中]／阴亚芳(中科院研究生院．北京(100039)),方强…∥半导体光电．-2004,25(6).-448-450,453应用Mueller矩阵分析Lyot型消偏器对不同类型光源的消偏性能,通过对矩形光源、洛伦兹光源及高斯型光源的消偏性能与消偏器参数的关系进行数值计算,得出了影响Lyot型消偏器的关键因素是晶体厚度和两晶体主轴间的夹角。晶体厚度与晶体双折射率乘积大于相干长度,

简介：O436．32005064047石英晶体右旋光与左旋光折射率差的温度特性=Temper-aturepropertyontherefractiveindexdifferenceofleftro-tationandrightrotationlightofquartzcrystal[刊,中]/苏富芳(曲阜师范大学激光研究所．山东,曲阜(273165)),吴福全∥光学技术．-2005,31(4)．-540-541,544

简介：本文介绍了如何利用折射率的洛伦茨色散关系拟合氢原子光谱实验的定标曲线的方法。通过引入这种处理方式，提高了数据处理的科学性和严谨性，同时能更深刻地理解了氢原子光谱实验中的实验现象。

简介：通过分析显式有限差分格式的数值色散和数值耗散，导出一个适于有限差分格式的通用色散一耗散条件.根据群速度和耗散率之间的物理关系，确定了用以抑制数值解中伪高波数波所需要的适度耗散．在以往发展的低耗散加权基本无振荡格式WENO—CU6-M2上的应用表明，该条件可用作优化线性或非线性有限差分格式的色散和耗散的通用指导准则．此外，满足色散-耗散条件的改进WENO—CU6-M2格式还可选作低分辨率数值模拟，以三维Taylor-Green涡向湍流转捩和自相似能量衰减问题展现了它的这种能力．与经典的动态Smagorinsky亚网格尺度模型相比，在Heynolds数胁：400～3000条件下，无黏和黏性Twlor—Green涡的数值模拟结果均得到明显改善．在保持激波捕捉特性同时，与最新的隐式大涡模拟模型的计算效果相当．

简介：提出利用入射角、偏向角及折射率的函数关系,以多个非近零变化率点测量及其最小二乘法的非线性拟合得到较小不确定度的系列谱线的折射率,进而获得较高精度的色散特性关系。克服以最小偏向角方法测定时临界位置主观随机影响大的局限性。从而实现基于法拉弟磁光效应的电子荷质比的高精度测量。

简介：通过不同波长的光源照射葡萄糖水溶液,观察到旋光现象,并测出了不同波长所对应的旋光度,从而计算出它们的旋光率.通过分析测量数据得,在一定温度下葡萄糖溶液旋光率与波长具有对应的函数关系,证实了旋光率与照射光源波长倒数的平方成正比.

简介：在分光计相关实验的基础上,借助汞灯和钠灯光源实践了光谱定标和波长测量等基本光谱分析方法,并通过进一步研究棱镜的色散曲线确定了实验所用棱镜的制作材料。

简介：在文献[3]的基础上,根据一些简单方程的特征,导出了(2+1)-维色散的长波方程的新的精确解,其中包含了已有文献中的孤子解,多孤子解等.

简介：在已经报道的可溶性金团簇的合成方法中，Brust于1995年提出的合成方法是最成功的方法之一。该方法是将氯金酸还原，所得金纳米粒子可在反应体系中原位“自组装”上一个单层的保护层，即用有机分子对纳米粒子进行修饰，最终得到可在适当溶剂中良好分散的单层保护团簇MPC。用类似的方法可以制备银、铜及某些合金的MPC。

简介：传统的化学分析方法分析硅酸盐类矿物样品组份,操作过程繁琐、分析周期长、劳动强度较大,分析结果受分析人员及各种试剂因素影响较大。采用国产能量色散X-射线荧光分析仪,以Li2B4O7和LiBO2作混合熔剂,NH4NO3为氧化剂,熔融制作玻璃熔片,对硅酸盐中SiO2等10个主要成分含量进行同时分析,建立了能量色散X-射线荧光光谱法测定硅酸盐主成分含量的方法,准确度和精密度均达到了规范要求,得到了较为满意的分析结果。

简介：提出了偏振能量色散x射线荧光光谱法测定炼钢污泥中化学成分的方法，优化了仪器的工作条件。在最佳分析条件下，测定了炼钢污泥样品中TFe、SiOz、MgO、AIzOs、P和CaO的含量，所测定的6种成分的相对标准偏差均小于3％，并对污泥试样进行了测定，其分析结果与用化学法的测定值相一致。采用偏振能量色散X射线荧光光谱法测定炼钢污泥中TFe等成分周期短、准确度高，方法简便、快速，完全能满足生产需求。

简介：薄膜厚度的测量是薄膜科学的重要分支之一，本文讨论用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法，从而确定薄膜的厚度和折射率，该方法的优点是测量精度高，原理简单，在一次测量过程中可同时确定薄膜的厚度和折射率。

简介：目的：探索1T-MoS2（多型结构的二硫化钼）的除汞机制。方法：1.采用密度泛函理论（DFT）分析Hg~0在1T-MoS_2单层上的吸附机理。2.考察1T-MoS_2的不同吸附位置。3.对不同的吸附构型,研究电子吸附前后的变化,从而进一步了解吸附过程。结论：1.化学吸附是Hg原子与1T-MoS_2单层吸附的主导因素。同时,在所有可能的吸附位置中,T_（Mo）（在钼原子上方）的位置是最强烈的吸附构型。2.汞（Hg）原子在1T-MoS_2单层上的吸附受邻近的硫（S）和钼（Mo）原子的影响。3.吸附的汞（Hg）原子在1T-MoS_2的Tmo位置上会被氧化,其吸附能为-1.091eV。4.从局部态密度（PDOS）分析来看,Hg原子和1T-MoS_2表面之间的相互作用是由汞（Hg）原子的d轨道与硫（S）原子的s轨道及钼（Mo）原子的p轨道和d轨道重叠所致。

简介：采用粉末样品直接压片法，使用自制校准样品在布鲁克S2RANGEREDX光谱仪上通过各种基体干扰校正手段，建立了基夫赛特直接炼铅炉渣中Pb，Zn，Cu，Fe，SiO2，CaO的测定工作曲线，并考察了样品粒度、制样条件对结果的影响以及考核了压片精度和方法准确度。方法简便快捷、精密度高、准确度满足主产工艺指标要求。

简介：首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立了鉴定方法,采用X射线荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X射线荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X射线衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示,X射线荧光光谱法测定的铜矿和含铜物料的共同特点是铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求;硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出;差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;用X射线荧光光谱法检测出的金属元素,通过X射线衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。