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浅析微电子器件静电损伤的测试邢莉
浅析微电子器件静电损伤的测试邢莉
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摘要
摘要微電子器件业内称之为静电敏感器件,一般而言,场效应器件、双极器件等微电子器件的抗静电能力更加弱,人体或者器件本身的静电都足以对器件造成损伤,如果不加以防护,微电子器件很可能因为静电受损,导致器件失去本身的功能,影响了产品的质量。因此,提高微电子器件在包装、运输、储存、使用等方面的防静电措施至关重要。
DOI
lj1ymg07jv/3979368
作者
邢莉
机构地区
(飞思卡尔半导体(中国)公司)
出处
《电力设备》
2019年4期
关键词
微电子器件
静电损伤
放电模型
分类
[电气工程][电力系统及自动化]
出版日期
2019年04月14日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
电力设备
2019年4期
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