摘要目的对一个线粒体DNA耗竭综合征家系进行遗传基因变异分析，探讨其分子发病机制。方法提取家系中患者及其父母外周血基因组DNA，采用高通量测序技术检测致病基因变异，并对变异进行Sanger测序验证。结果发现患者DGUOK基因存在c.505_508delTATC的纯合变异，父母都是该位点的杂合变异携带者。c.505_508delTATC为未见报道的新变异位点，造成169位氨基酸由酪氨酸(Y)变异为精氨酸(R)，随后编码框改变，在199位翻译提前终止，理论上产生截短蛋白p.Y169Rfs31X。结论c.505_508delTATC为DGUOK基因致病性变异，扩展了DGUOK基因变异谱。
中华医学遗传学杂志
2020年04期
