M68HCXXX测试平台转换

M68HCXXX测试平台转换

张伟,李玉莉

恩质浦半导体（天津）有限公司 天津

摘要

近些年来为了提高制造测试能力并淘汰旧的测试平台，半导体行业开展大量的测试平台转换的工程工作，M68HCXXX产品在T332X平台上测试本文将简要讨论测试程序从T332X到为J750的程序转换工作。使用Teradyne IG-XL和模式转换器工具，在T332x测试平台上基于M68HC08DX16的原始测试程序开发J750测试平台的测试程序和测试模式。

关键词：测试转换、模式转换

一背景

M68HCXXX是低成本M68HC系列8位MCU的成员。它基于使用M68HC08中央处理器单元（CPU08）的客户指定集成电路（CSIC）设计策略。M68HCXXX开始批量生产超过15年，并在T332x测试平台（advantest测试仪）上进行测试，该平台已停止供应商的维护服务。测试器操作系统是Unix。硬件维护和操作困难。与J750相比，T332x中的测试并行性有限且较低。随着T332x上其他产品的EOL测试， M68HCXXX的测试计划转换为J750测试平台。

二测试用pattern文件的转换

了解J750和T332x之间测试模式格式的差异是模式转换的关键点，下面是两个平台之间模式格式的详细差异。

1.在T332x模式的开头定义了模式名称和套接字文件（在J750中命名为通道映射），但J750模式没有这种部分。（如图1、2所示）

2.用于图案的通道应该在T332x图案的开头定义，但J750图案没有这种部分。（如图1、2所示）

3.关键字“CFPF”（控制字段和模式字段）在T332x的模式中声明，但该部分不需要J750的模式（如图1、2所示）

4.在T3326中，CF和PF由“/”分割（如图1所示）

5.定时集名称和模式内容在T332x中由“！”分割（如图1所示）

6.有些关键字不同，例如，T3326的模式中注释应该以“；”开头，而J750的模式中使用“\\”。T3326模式中的“不在乎”是“.”，而J750模式中的是“x”。在T3326的模式中，中间值为“Z”，而在J750的模式中使用“M”等（如图1、2所示）

7.控制字（T332x中命名为操作码）与J750模式不同，例如，T3326中的循环向量是“INDEX+循环编号”，而J750中使用的是“Repeat+循环编号“等（如图1、2所示）

图1 T332x pattern 格式

图2 J750 pattern格式

基于T332x和J750 pattern之间的差异，模式格式转换工具由Perl语言开发（选择Perl语言是因为它具有强大的文本处理功能）。下面是模式转换工具的结构和简要介绍。

1.模式转换工具包括两个部分，它们是头文件和主转换会话。头文件用于定义T332x格式的模式名称、使用的套接字文件和通道。（如图3所示）

2.主要转换会话是：a）根据头和套接字文件将T332x模式转换为文本格式。b） 将T332x模式中的操作码和符号转换为满足J750模式格式和要求的代码。（如图4所示）c）使用Teradyne IG-XL提供的模式编译器将.atp文件编译为J750模式的.pat文件。

图3 T3326 pattern格式的头文件

图5 M68HCXXX的T332x测试程序

三测试程序转换

要完成程序转换，应确认以下项目。

1.所需测试实例和测试顺序

2.所有试验项目的直流规范。（例如电压、电流）

3.所有试验项目的交流规范（例如频率、时间）

4.使用的信道资源和引脚定义

T332x测试程序源代码是.asc文件，如图5所示。J750程序是使用Teradyne IG-XL工具根据.asc文件中的直流、交流参数设置和测试流程开发的。基于IG-XL的excel文件被创建为J750测试程序，其中包含DC、AC规格、级别、实例、流表、通道图、引脚图等标准表。转换后的测试模式随后与测试程序一起加载以进行调试，直到满足预期测试结果。

四结论

在开发的模式转换工具和Teradyne IG-XL的支持下，M68HCXXX从T332x到J750测试平台的测试转换成功完成。测试性能在J750测试仪上稳定且无异常突变发现，进而细致比较具体测试项目与T332x测试仪上的参数分布，离散程度相当。测试并行性从x4提高到x8，大幅度的减少了测试时间和测试成本，从而提高了测试能力并降低了测试成本。

参考文献

[1 程C C，陈L Y，李J W，等.基于机器学习的晶圆测试缺陷检测方法[J]。IEEE半导体制造汇刊，2021，PP（99）：1-1。

[2] Song J，Lee E，Kim J，et al.用于LPDDR通道中晶圆级应用处理器测试的信号和功率完整性探针卡设计[C]//2016 IEEE第66届电子元件和技术会议（ECTC）。IEEE，2016年。