简介:O434.122006065468强脉冲软X光辐照薄塑料闪烁体发光特性研究=LinearluminescenceforthinplasticscintillatorsunderintensesoftX-rayirradiation[刊,中]/宁家敏(中物院核物理与化学研究所.四川,绵阳(621900)),蒋世伦…//强激光与粒子束.—2006,18(7).—1215-1218介绍了Z-pinch实验用软X光功率仪的测量原理,利用“强光一号”产生的强脉冲软X光对薄塑料闪烁体((?)40min×0.1mm)进行了辐照。实验中,采用两套软X光功率仪并安装在同一个大法兰面上.其中一套作为标准系统,参数保持不变,另一套系统的狭缝宽度逐渐增加,以改
简介:O436.197020779泰伯衍射光场的三维分布特征=Characteristicsofthree-dimensionaldistributionofTalbotdiffractionfield[刊,中]/谭松新,苏显渝(四川大学光电系.四川,成都(610064))//光电工程.-1996,23(2).-34-41采用菲涅尔近似公式和傅里叶级数展开的方法,分析了罗奇光栅、正弦强度光栅、正弦振幅光栅的泰伯衍射光场的三维强度分布特征,给出了计算机模拟的三维强度分布图,并讨论了一些在三维传感领域有应用前景的性质。图7参12(吴淑珍)
简介:O436.197052875二元光学元件衍射效率的逐层分析法研究=Studyofdiffractionefficiencyofbinaryopticalelementswithlayerbylayeranalysismethod[刊,中]/叶钧,许乔,侯西云,杨国光(浙江大学高技术现代光学中心,浙江,杭州(310027))∥光学学报.—1996,16(10).—1350—1355提出了一种有效的分析二元光学元件衍射效率的新方法—逐层分析法,并对四台阶二元器件,就蚀刻深度误差和横向对准误差对器件衍射效率的影响进行了分析和讨论,证明用该方法分析含有横向对准误差的二元光学元件的横向衍射效率非常简便有效。图4
简介:采用闪烁体加光电管,建立了一套X射线功率谱测量系统,在“强光”1号丝阵Z-pinch实验中,获取了喷气和丝阵负载的X光辐射功率波形。实验表明将X光探测器设置在与主测量管道成90°的分测量管道中,并选用ST-401闪烁体或红光闪烁体为X光/荧光转换材料,能使可见光透过闪烁体而不在闪烁体中有沉积能量。实验中X光探测器的电磁屏蔽也得到了解决。