简介:目的:评价锥形束CT(CBCT)结合显微超声技术诊断治疗老年钙化根管的临床效果。方法:选择我院60例老年患者的108个钙化根管作为研究对象,均因传统根管治疗不能成功疏通根管,应用CBCT技术检查判断根管口的位置,根管走向及位置,再应用显微超声技术去除髓腔内及根管内钙化组织,探查并疏通根管,统计根管疏通成功率。结果:108个钙化根管中,95个根管成功疏通,成功率87.9%,根颈1/3钙化根管疏通率98.5%,根中1/3钙化根管疏通率80.0%,根尖1/3钙化根管疏通率53.8%。结论:锥形束CT与显微超声技术联合使用,对疏通钙化根管具有明显效果,为老年钙化根管提供了有效的诊治方法。
简介:牙外伤是口腔急诊中的常见病和多发病,严重的牙外伤常常导致患牙不能保留而需要拔除.以往前牙缺失后采取传统的固定和活动义齿修复或者常规种植修复,通常需要3~6个月的等待,在这期间患者需要经受缺牙或佩戴活动临时修复体带来的不适.近年来,即刻种植技术迅速发展,不仅能更快地恢复缺失牙的形态和功能,同时能起到尽可能保存原有软硬组织的作用.但临床医生需要意识到,即刻种植在适应证上有较为严格的要求,同时因为牙外伤常发生在前牙美学区,需要考虑相应的美学风险.因此,特别是对于临床经验不足的医生而言,即刻种植手术是一项巨大的挑战.文章对即刻种植在牙外伤中的应用做一简单总结,并结合笔者临床经验分享即刻种植的一些技术要点和病例分析.
简介:目的探讨个性化全瓷基台在前牙区种植修复的美学效果。方法临床上收集51例前牙缺失患者(共植入60枚种植体)作为研究对象,根据患者意愿,26例选择个性化金属纯钛基台纳入对照组即:个性化钛基台+全瓷冠修复(30枚);25例患者选择个性化全瓷基台纳入实验组即:个性化全瓷基台+全瓷冠修复(30枚)。通过两组对照研究,术后1、6、12个月复诊,分别记录红白复合美学指数、牙龈指数及菌斑指数,将数据进行统计学分析。结果术后1、6个月红白美学指数差异无统计学意义;术后12个月比较:(1)红色美学指数:实验组(30例)高于对照组(28例),差异有统计学意义(χ^2=6.696,P=0.020);(2)白色美学指数:实验组(30例)高于于对照组(29例),差异有统计学意义(χ^2=6.634,P=0.021)。术后1个月菌斑指数和牙龈指数差异无统计学意义;术后6个月两组比较菌斑指数(t=3.128,P=0.003)和牙龈指数(Z=-3.537,P=0.000)差异均有统计学意义;术后12个月两组比较菌斑指数(t=3.027,P=0.004)和牙龈指数(Z=-6.785,P=0.000)差异均有统计学意义。结论在前牙种植美容修复中,个性化全瓷基台较钛基台优势明显,值得临床推广。
简介:目的:利用聚乳酸-聚乙醇酸共聚物/聚己内酯(PLGA/PCL)混纺技术在不影响纯PLGA静电纺丝膜生物相容性的前提下改良其遇水收缩的缺陷,以使其操作性能更接近临床实际应用。方法:将不同重量比的PLGA/PCL(10∶0、7∶3、6∶4、5∶5及0∶10)混合,利用静电纺丝技术制得电纺膜,表征比较纺丝直径及收缩性。在相同条件下在膜上培养成骨细胞,比较不同电纺膜的细胞相容性,并在扫描电镜下观察不同电纺膜表面形貌及细胞粘附形态。结果:随PCL比例增加,纺丝直径有所增加,但在扫描电镜下不同电纺膜表面形貌及细胞粘附形态并无明显差异;加入PCL后混纺膜的细胞相容性较纯PLGA略有下降,但仍比纯PCL高,且不同比例的PLGA/PCL(7∶3、6∶4、5∶5)混合电纺膜细胞相容性无统计学差异;纯PLGA膜呈现极大的收缩比率,随PCL的添加收缩比率明显下降,且不同的添加比例组间无明显差异。结论:在PLGA中添加一定比例的PCL可以有效改善纯PLGA膜的收缩性能,且PCL的加入对PLGA良好的生物相容性影响较小。
简介:目的探讨多曲方丝弓(MEAW)技术矫治恒牙期骨性下颌偏斜的矫治原理和临床疗效。方法选取2006-2014年就诊于苏州卫生职业技术学院附属口腔医院正畸科门诊的骨性下颌偏斜患者16例,选用0.56mm×0.71mmMBT系统托槽,采用MEAw技术进行矫治。矫治前后拍摄X线曲面断层片及头颅侧位片,并进行定点测量,对测量结果进行比较分析。结果16例骨性下颌偏斜患者平均矫治时间20个月,均取得良好的矫治效果。头影测量分析显示,治疗后下磨牙远中直立移动,平均远中直立7.63°,平均远中移动3.38mm;下前牙平均舌倾内收3.31mm;下颌骨治疗前后不对称,治疗前后颌骨改变小。结论采用MEAW技术可有效矫正恒牙期骨性下颌偏斜,为代偿掩饰性矫正。
简介:目的研究颌骨囊性病变采用开窗减压术和刮治截骨术的治疗效果及义齿式囊肿塞的应用。方法81例颌骨囊性病变患者,分别采用开窗减压术(36例)和刮治截骨术(45例),比较两组术中相关情况和术后并发症及复发情况。采用SPSS13.0统计软件进行统计分析,资料以x±s表示,对两种治疗方法手术用时、出血量、受累牙拔除、下唇麻木情况及术后治疗效果与复发率采用χ2检验进行比较分析,P〈0.05为差异有统计学意义。结果开窗减压术患者手术时间为(31.2±4.1)min,术中出血量为(20.3±7.2)ml、受累牙拔除为(0.7±0.04)个,术后疼痛、下唇麻木、感染及术后3年咀嚼功能下降等指标均明显低于刮治截骨术患者,差异有统计学意义(P〈0.05),而术后3年刮治截骨术组有6例面形发生轻度不对称,2例复发(4.44%),开窗术组无面形改变和复发,复发率差异无统计学意义(P〉0.05)。结论开窗减压术手术创伤小、并发症少,保留了颌骨的完整性及病变区的患牙,相对应刮治截骨术是一种简单实用有效的方法。
简介:目的:探讨改良骨劈开夹心植骨联合延期种植应用于上前牙连续缺失患者修复的效果。方法:患者女性,48岁,以“拔牙后1周,原烤瓷桥松动,要求种植美观修复上前牙”为主诉于我院就诊,拟行上颌右侧侧切牙、上颌右侧中切牙、上颌左侧中切牙、上颌左侧侧切牙种植修复。在局麻下小翻瓣,用长探针探及腭侧骨板的走向后,用细引导钻在牙槽嵴顶连续定位,形成骨劈开引导沟。采用骨劈开工具沿引导沟劈开牙槽骨,并填充骨粉形成“三明治”样结构,随后关闭伤口。4~5个月后常规植入Straumann骨水平种植体4颗(3,3mm×12mm),并同期行GBR。6个月后常规行二期手术,以临时冠诱导牙龈形态,3个月后完成最终修复。结果:种植术后1年,患者种植体稳定,修复体无松动,牙龈无红肿。患者对修复效果满意。结论:前牙区长期缺牙致唇侧骨板吸收明显,牙槽嵴常呈刃状,传统骨劈开术较难保证种植体方向,而Onlay植骨创伤较大,对于上前牙连续缺失伴水平向严重缺损的病例,此改良骨劈开联合延期种植的尝试收到了较好的修复结果,大大降低了患者的痛苦,并提高了术者的可操作性。
简介:目的:经过5年随访研究证实.在后牙缺失种植修复的应用中,氧化锆基台与钛基台的成功率相似。材料和方法:采用两段式种植方案。最终修复体戴入后.对每位患者进行了为期5年的随访观察.每年通过临床及影像学参数来进行评估,记录修复体并发症的发生情况。通过数据分析(Wilcoxonsignedranktest)来观察比较种植体支持的修复体与对侧同名牙之间在生物学及影像学参数之间的差异。描述·性数据用于分析随着时间的推移(从基准到最后一次随访)临床及影像参数的变化。结果:85名患者均存在单颗后牙缺失.植入85颗种植体,其中38颗氧化锆基台和47颗钛基台,分别安装38个全瓷冠及47个金属烤瓷冠。其中4名患者中途退出试验。81颗种植体分别支持44颗钛基台、37颗氧化锆基台.完成了为期5年的随访观察。均未发现种植体失败,骨组织改建失败及基台失败。因此.5年随访的所有基台及修复体的成功率为100%。并且通过对比种植牙与对侧天然牙.发现钛基台及氧化锆基台之间在生物学及影像学参数指标方面没有显著性差异。在随访记录中还发现,钛基台与氧化锆基台不会引起明显的边缘骨吸收。结论:通过中期随访研究发现,氧化锆基台在单颗后牙缺失中的应用类似于钛基台。但仍需要长期的观察研究来证实。
简介:目的通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描后沿垂直于试件长轴将试件平均切成6段,对每段剖面进行光学显微镜观察并获取5个剖面图像。根据剖面位置确定显微CT扫描断层图像,并将显微镜图像与显微CT图像进行灰度差值匹配比对,分析显微CT对全瓷材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。对CT扫描结果进行三维重建,比较二硅酸锂双层瓷试件内部缺陷的二维形貌与三维形貌的差异。结果显微镜图像与显微CT图像的平均相似度为(83±7.9)%;缺陷的二维剖面形貌与三维形貌存在较大差异。结论显微CT能够可靠地无损探测二硅酸锂双层瓷材料的内部缺陷结构,但对尺寸接近探测分辨率的孔洞成像较模糊。三维重建分析较二维形貌观察能更全面地反映缺陷的形貌。
简介:目的通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描后沿垂直于试件长轴将试件平均切成6段,对每段剖面进行光学显微镜观察并获取5个剖面图像。根据剖面位置确定显微CT扫描断层图像,并将显微镜图像与显微CT图像进行灰度差值匹配比对,分析显微CT对全瓷材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。对CT扫描结果进行三维重建,比较二硅酸锂双层瓷试件内部缺陷的二维形貌与三维形貌的差异。结果显微镜图像与显微CT图像的平均相似度为(83±7.9)%;缺陷的二维剖面形貌与三维形貌存在较大差异。结论显微CT能够可靠地无损探测二硅酸锂双层瓷材料的内部缺陷结构,但对尺寸接近探测分辨率的孔洞成像较模糊。三维重建分析较二维形貌观察能更全面地反映缺陷的形貌。