简介：O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：TH70396021316激光圆偏振镜相移参数的测量=PhaseretardationmeasurementofCO2lasercircularpolarizer[刊,中]/周凤晴,李晓平,陈清明（华中理工大学激光技术国家重点实验室。湖北,武汉（430047））∥激光技术。—1995,19（4）。—193—196CO2激光圆偏振镜是CO2激光器在工业加工中的重要光学元件,本文描述一种测量这种光学元件相

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

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简介：TN252005021226光纤光栅在传感应用中波长漂移的检测方案=Detectionmethodsofwavelengthshiftinopticalfibergratingssens-ingapplication[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室.陕西,西安(710065)),乔学光…//光电子技术与信息.-2004,17(5)．-49-53波长漂移量的检测是实现光纤光栅传感网络的关键技术。分类阐述了近几年来光纤光栅传感应用中主要的

简介：TB922002032253基于线阵CCD阵列的在线检测方法=New3DsurfacemeasurementonlinebasedonlinearCCDarrays[刊,中]/周鸿,赵宏(西安交通大学机械学院激光与红外应用所.陕西,西安(710049))//半导体技术.-2001,26(11).-1-4利用矩形光栅离焦投影,产生正弦光场,通过三个严格排列的线阵CCD阵列对物体三维轮廓进行扫描采样测量,一次扫描就可以获得三幅相位图。重点讨论了该方法的原理和特点,并给出试验简图及实际测量结果。图8(李瑞琴)

简介：TB812.52002010504胶片分析系统形成色偏原因分析及校正方法=Analysisonreasonsofcolorcastforminginafilmanalyzingsystemandcalibrationmethod[刊,中]/王雪晶,郝志航(中科院长春光机所.吉林,长春(130022))∥光电工程.—2000,27(6).—17-20

简介：由于同步装置工作时有脉冲高电压、大电流输出，产生的电磁环境十分复杂和恶劣，对周围的组件及测试系统产生较严重的影响，在台面联试、半总装联试及总装联试等不同状态下，经常出现由于干扰问题，影响程控等装置正常工作，使系统联试工作无法正常进行，严重时还会造成程控等装置损坏。因此，需要测量高压脉冲大电流在环境中的辐射频谱和幅度，为系统中其他组件的电磁兼容设计提供技术依据。

简介：O644.162000031974卟啉与吩噻嗪分子间和分子内的光致相互作用=Pho-toinducedintermolecularandintramolecularinteractionsbetweenphenothiazineandporphyrin[刊,中]/贺学忠(清华大学生物科学与技术系.北京(100084)),周亚琳,张曼华,沈涛(中科院感光化学研究所.北京(100101))//高等学校化学学报.—1999,20

简介：TB842003053774耐水性丝网印刷感光高分子性能研究=Researchonpropertiesofwaterresistantphotosensitivepolymerforscreenprinting[刊,中]/黄毓礼(北京化工大学材料科学与工程学院.北京(100029)),王淑芳…//高分子材料科学与工

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简介：TB8896042600底片缺陷分析及鉴别仪器=Analysisofphotographicfilmdefectsanditsdiscriminators[刊,中]/周宏(国家照相机质量监督检验中心)∥照相机.—1995,(10).—23—25对各种一般的及特殊的情况提出底片的缺陷,并简要分析底片缺陷产生的原因,用表格形式将各种缺陷归类,并确定它属于何种类型的缺陷,以便查阅。由于肉眼直接观察来分析底片缺陷已不能满足摄影及

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简介：TN252005010358光纤端面衍射场光束参数及其测量=Beamparametersindiffractedfieldoffiberendfaceandthemeasurement[刊,中]／林斌(浙江大学光电系,现代光学仪器国家重点实验室,国家光学仪器工程技术研究中心．浙江,杭州(310027)),王科…∥光子学报．-2004,33(3).-294-298基于非傍轴标量光束的传播理论和横截面上光强的

简介：随着新课程理念“从生活走向物理，从物理走向社会”的深入落实，近几年中考试题中联系生活、联系社会实际．全面考查学生综合素质的试题逐年递增．因此在教学中应注重培养学生在具体的问题情境中。通过题目里的文字分析出其物理本质，挖掘其内涵和外延，并应用物理知识解决实际问题的能力．下面通过近几年全国各地中考试题例举分析．

简介：初中物理新课标强调探究式教学，目的是让学生获得初步的探究能力．探究性试题是检验学生探究能力的一种重要方法，因此探究性试题逐渐进入各种评价与测试中，本文是笔者对中考物理探究性试题做的一点分析，以飨读者．

简介：利用单片机，集数据采集、存贮、显示结果为一体，成功地显示了偏振光的光强分布，并可测量其相对强度和照度．

简介：O484.598063898测量金属膜粗糙度的表面等离子激元光谱方法=Surfaceplasmonspectroscopyformeasuringthesurfaceroughnessofmetallicfilms[刊,中]/邓里文,王恭明(复旦大学物理系三束材料改性国家重点实验室.上海(200433))//光学学报.—1998,18