简介:O436.197052875二元光学元件衍射效率的逐层分析法研究=Studyofdiffractionefficiencyofbinaryopticalelementswithlayerbylayeranalysismethod[刊,中]/叶钧,许乔,侯西云,杨国光(浙江大学高技术现代光学中心,浙江,杭州(310027))∥光学学报.—1996,16(10).—1350—1355提出了一种有效的分析二元光学元件衍射效率的新方法—逐层分析法,并对四台阶二元器件,就蚀刻深度误差和横向对准误差对器件衍射效率的影响进行了分析和讨论,证明用该方法分析含有横向对准误差的二元光学元件的横向衍射效率非常简便有效。图4
简介:TN2996031896光子计数探测的非线性失真及其改进的研究=Nonlineardistortioninphotoncountingandim-provingmethod[刊,中]/谭征(紫金山天文台.江苏,南京)//紫金山天文台台刊.-1995,14(2).-146-158对光子计数探测中堵塞漏计引起的非线性失真现象作了一些新的探讨和分析,提出了一套新的减少漏计的论证。该论证一旦实现,将会大大扩展光子计数探测的线性范围,进一步提高探测的灵敏度、信噪比和精度。图11参5(严寒)TN312.796031897高压超快脉冲电路研制=Generationofhigh